[发明专利]一种玻璃基板翘曲的检测方法及装置

权利要求书

1.一种玻璃基板翘曲的检测方法，其特征在于，包括：

获取成品尺寸的玻璃基板；

对该玻璃基板进行整版翘曲测量和边部翘曲测量；

根据所述整版翘曲测量结果和边部翘曲测量结果，判断该玻璃基板是否合格。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

对所述玻璃基板进行清理后进行整版翘曲测量；

所述整版翘曲测量结果合格后，进行边部翘曲测量。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

根据边部翘曲测量结果与翘曲阈值的比较，判定该玻璃基板是否合格。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述整版翘曲测量时，横向采样步距为5-50mm，纵向采样步距为5-50mm；

所述边部翘曲测量时，横向采样步距为5-10mm，纵向采样步距为5-10mm。

5.根据权利要求1-4中任意一项所述的方法，其特征在于，

以所述玻璃基板的一侧为基准，所述边部翘曲测量包括近端翘曲测量、远端翘曲测量、上端翘曲测量和下端翘曲测量。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

所述近端翘曲测量包括：测量一组数据，获取该测量数据的最大值为近端翘曲值。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

所述远端翘曲测量包括：测量一组数据，获取该测量数据的最大值为远端翘曲值。

8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

根据上端翘曲测量获取玻璃基板的上端翘曲值、近上角翘曲值、远上角翘曲值。

9.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

根据下端翘曲测量获取玻璃基板的下端翘曲值、近下角翘曲值、远下角翘曲值。

10.一种玻璃基板翘曲的检测装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取成品尺寸的玻璃基板；

测量单元，用于对该玻璃基板进行整版翘曲测量和边部翘曲测量；

判定单元，根据所述整版翘曲测量结果和边部翘曲测量结果，检测该玻璃基板是否合格。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，

对所述玻璃基板进行清理后进行整版翘曲测量；

所述整版翘曲测量结果合格后，进行边部翘曲测量。

12.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，

根据边部翘曲测量结果与翘曲阈值的比较，判定该玻璃基板是否合格。

13.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，

以所述玻璃基板的一侧为基准，所述边部翘曲测量包括近端翘曲测量、远端翘曲测量、上端翘曲测量和下端翘曲测量。