[发明专利]一种核安全3级HDPE无损检测试块的制备方法在审
| 申请号: | 202110897166.8 | 申请日: | 2021-08-05 |
| 公开(公告)号: | CN113777269A | 公开(公告)日: | 2021-12-10 |
| 发明(设计)人: | 吴双;王亮;李怀见;冯建;赵云龙;康萏;张庆元;邱晓东 | 申请(专利权)人: | 上海核工程研究设计院有限公司;上海纳川核能新材料技术有限公司 |
| 主分类号: | G01N33/2045 | 分类号: | G01N33/2045;G01N1/28 |
| 代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人: | 刘宁 |
| 地址: | 200233*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 安全 hdpe 无损 检测 制备 方法 | ||
本发明涉及HDPE标准试块制备技术领域,具体公开了一种核安全3级HDPE无损检测试块的制备方法,包括如下步骤:a、选取一段HDPE管道,使外径壁厚符合要求;b、机加工为长方体试块并标记打孔位置以及孔尺寸;c、在标记位置打孔,孔深度需大于探头宽度;d、使用无损检测仪器对试块进行校验屏幕线性以及波幅控制线性检测,验证试块的适用性;本发明通过此试块可进行校验核安全三级无损检测仪器的屏幕高度线性以及波幅控制线性,保证无损检测仪器对缺陷的检出能力进而保证HDPE管件以及HDPE焊缝的质量好、安全性高的优点。
技术领域
本发明涉及HDPE标准试块制备技术领域,具体为一种核安全3级HDPE 无损检测试块的制备方法。
背景技术
目前,金属材料焊缝在进行无损检测前需要采用标准试块进行标定无损检测仪器后再进行检测。而HDPE管件及HDPE焊缝检测前尚无标准的HDPE试块进行仪器线性的校核,需要制作含有标准要求孔洞的试块进行仪器的校验,以验证仪器的屏幕高度线性以及波幅控制线性是否符合标准要求。
发明内容
本发明的目的在于提供一种核安全3级HDPE无损检测试块的制备方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种核安全3级HDPE无损检测试块的制备方法,包括如下步骤:
a、选取一段HDPE管道,使外径壁厚符合要求;
b、机加工为长方体试块并标记打孔位置以及孔尺寸;
c、在标记位置打孔,孔深度需大于探头宽度;
d、使用无损检测仪器对试块进行校验屏幕线性以及波幅控制线性检测,验证试块的适用性。
优选的,所述步骤a中,管道的尺寸外径为914±4.11mm,壁厚为 101.6+12.2mm,长度不低于500mm。
优选的,所述步骤b中,管道通过机加工成的长方体试块的长、宽、高分别为a、b、c,其中a≥200mm、b≥200mm、c≥20mm。
优选的,所述步骤b中,打孔数量为两个,两个孔设置在长方体试块的端面上,且处于同一竖直平面内;其中上侧的孔到长方体试块顶面的距离为长方形高度的四分之一,下侧的孔到长方体试块顶面的距离为长方形高度的二分之一。
优选的,所述步骤c中,打孔孔径不小于2mm,孔径深度不小于50mm;打孔的轴向方向与长方体试块的侧面保持平行。
优选的,所述步骤d中,屏幕高度线性检查过程为:选取已经校验后的无损检测仪器进行校验,探头为斜探头;从下侧孔和上侧孔得到反射信号,使二者波高比为2:1,调节灵敏度使较高的信号至满屏80%;不移动探头,调节灵敏度,每次衰减10%,使较高的信号从100%逐次降到20%,读出每次调整后较低信号的读数。
优选的,所述步骤d中,波幅控制线性核查过程为:将斜探头放在基准试块上,使下侧横孔信号显示波屏峰值,调节灵敏度,使反射信号处于所规定的范围内。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明通过试块可进行校验核安全三级无损检测仪器的屏幕高度线性以及波幅控制线性,从而验证仪器符合核安全三级无损检测对仪器的技术要求,保证无损检测仪器对缺陷的检出能力进而保证HDPE管件以及HDPE焊缝的质量好、安全性高的优点,实用可靠。
附图说明
图1为本发明的流程图;
图2为本发明的实施例中试块的尺寸示意图;
图3为本发明的实施例中探头放置示意图。
具体实施方式
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