[发明专利]一种核安全3级HDPE无损检测试块的制备方法

权利要求书

1.一种核安全3级HDPE无损检测试块的制备方法，其特征在于：包括如下步骤：

a、选取一段HDPE管道，使外径壁厚符合要求；

b、机加工为长方体试块并标记打孔位置以及孔尺寸；

c、在标记位置打孔，孔深度需大于探头宽度；

d、使用无损检测仪器对试块进行校验屏幕线性以及波幅控制线性检测，验证试块的适用性。

2.根据权利要求1所述的一种核安全3级HDPE无损检测试块的制备方法，其特征在于：所述步骤a中，管道的尺寸外径为914±4.11mm，壁厚为101.6+12.2mm，长度不低于500mm。

3.根据权利要求1所述的一种核安全3级HDPE无损检测试块的制备方法，其特征在于：所述步骤b中，管道通过机加工成的长方体试块的长、宽、高分别为a、b、c，其中a≥200mm、b≥200mm、c≥20mm。

4.根据权利要求1所述的一种核安全3级HDPE无损检测试块的制备方法，其特征在于：所述步骤b中，打孔数量为两个，两个孔设置在长方体试块的端面上，且处于同一竖直平面内；其中上侧的孔到长方体试块顶面的距离为长方形高度的四分之一，下侧的孔到长方体试块顶面的距离为长方形高度的二分之一。

5.根据权利要求1所述的一种核安全3级HDPE无损检测试块的制备方法，其特征在于：所述步骤c中，打孔孔径不小于2mm，孔径深度不小于50mm；打孔的轴向方向与长方体试块的侧面保持平行。

6.根据权利要求1所述的一种核安全3级HDPE无损检测试块的制备方法，其特征在于：所述步骤d中，屏幕高度线性检查过程为选取已经校验后的无损检测仪器进行校验，探头为斜探头；从下侧孔和上侧孔得到反射信号，使二者波高比为2：1，调节灵敏度使较高的信号至满屏80％；不移动探头，调节灵敏度，每次衰减10％，使较高的信号从100％逐次降到20％，读出每次调整后较低信号的读数。

7.根据权利要求1所述的一种核安全3级HDPE无损检测试块的制备方法，其特征在于：所述步骤d中，波幅控制线性核查过程为：将斜探头放在基准试块上，使下侧横孔信号显示波屏峰值，调节灵敏度，使反射信号处于所规定的范围内。