[发明专利]波长测算方法、装置、设备与计算机可读存储介质

说明书

本发明公开了一种波长测算方法、装置、设备和计算机可读存储介质，该方法包括：在检测到测算指令时，将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光；将所述待测线偏振光输入固定光路，得到第一干涉条纹的数量，并根据所述第一干涉条纹的数量和预设处理器中的数据，测算出所述待测光源的第一波长。本发明通过将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光，并将待测线偏振光输入固定光路得到第一干涉条纹的数量，再根据第一干涉条纹的数量和预设处理器中的数据，测算出待测光源的第一波长，降低了波长测算的成本。

技术领域

本发明涉及光通信技术领域，尤其涉及波长测算方法、装置、设备与计算机可读存储介质。

背景技术

在光纤通信领域中，激光器作为关键核心部件在各种产品中大范围应用，各种应用环境对激光器波长都有不同的要求，测量激光器波长是每一个光模块厂商都必须要做的基本测试，现有测量仪器如波长计，光谱仪等都能实现光波长的精确测量，但是由于波长计和光谱仪购买成本较高，且体积庞大，因此如何降低波长测算的成本，是急需解决的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提出一种波长测算方法、装置、设备与计算机可读存储介质，旨在解决如何降低波长测算的成本的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种波长测算方法，所述波长测算方法包括如下步骤：

在检测到测算指令时，将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光；

将所述待测线偏振光输入固定光路，得到第一干涉条纹的数量，并根据所述第一干涉条纹的数量和预设处理器中的数据，测算出所述待测光源的第一波长。

优选地，在检测到测算指令时，将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光的步骤之前，所述波长测算方法还包括：

获取标准光源的第二波长，并将所述第二波长储存到所述预设处理器中；

将所述标准光源输入所述起偏器，得到具有初始相位的标准线偏振光；

将所述标准线偏振光输入所述固定光路，得到第二干涉条纹，并统计所述第二干涉条纹的数量，将所述第二干涉条纹的数量储存到所述预设处理器中。

优选地，将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光的步骤包括：

将所述待测光源输入所述起偏器，使得所述待测光源发生偏振并转换为所述待测线偏振光，所述待测线偏振光具有与所述标准线偏振光相同的所述初始相位。

优选地，将所述待测线偏振光输入固定光路，得到第二干涉条纹数量的步骤包括：

将所述待测线偏振光输入所述固定光路，使得所述待测线偏振光同时输入所述固定光路中的第一光路和第二光路，所述第一光路与所述第二光路存在光程差；

将通过所述第一光路和所述第二光路的所述待测线偏振光投射到预设挡板上，得到所述第一干涉条纹，并统计所述第一干涉条纹的数量。

优选地，统计所述第一干涉条纹的数量的步骤包括：

通过红外CCD相机对所述预设挡板上的所述第一干涉条纹进行扫描操作，得到所述第一干涉条纹对应的扫描结果；

对所述扫描结果进行预设操作，得到所述第一干涉条纹的数量。

优选地，根据所述第一干涉条纹的数量和预设处理器中的数据，测算出所述待测光源的第一波长的步骤包括：

获取所述预设处理器中所述第二波长和所述第二干涉条纹的数量，并根据所述第二波长、所述第二干涉条纹的数量和所述第一干涉条纹的数量，测算出所述待测光源的所述第一波长。