[发明专利]波长测算方法、装置、设备与计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种波长测算方法，其特征在于，所述波长测算方法包括如下步骤：

在检测到测算指令时，将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光；

将所述待测线偏振光输入固定光路，得到第一干涉条纹的数量，并根据所述第一干涉条纹的数量和预设处理器中的数据，测算出所述待测光源的第一波长。

2.如权利要求1所述的波长测算方法，其特征在于，所述在检测到测算指令时，将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光的步骤之前，所述波长测算方法还包括：

获取标准光源的第二波长，并将所述第二波长储存到所述预设处理器中；

将所述标准光源输入所述起偏器，得到具有初始相位的标准线偏振光；

将所述标准线偏振光输入所述固定光路，得到第二干涉条纹，并统计所述第二干涉条纹的数量，将所述第二干涉条纹的数量储存到所述预设处理器中。

3.如权利要求2所述的波长测算方法，其特征在于，所述将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光的步骤包括：

将所述待测光源输入所述起偏器，使得所述待测光源发生偏振并转换为所述待测线偏振光，所述待测线偏振光具有与所述标准线偏振光相同的所述初始相位。

4.如权利要求3所述的波长测算方法，其特征在于，所述将所述待测线偏振光输入固定光路，得到第二干涉条纹数量的步骤包括：

将所述待测线偏振光输入所述固定光路，使得所述待测线偏振光同时输入所述固定光路中的第一光路和第二光路，所述第一光路与所述第二光路存在光程差；

将通过所述第一光路和所述第二光路的所述待测线偏振光投射到预设挡板上，得到所述第一干涉条纹，并统计所述第一干涉条纹的数量。

5.如权利要求4所述的波长测算方法，其特征在于，所述统计所述第一干涉条纹的数量的步骤包括：

通过红外CCD相机对所述预设挡板上的所述第一干涉条纹进行扫描操作，得到所述第一干涉条纹对应的扫描结果；

对所述扫描结果进行预设操作，得到所述第一干涉条纹的数量。

6.如权利要求4中所述的波长测算方法，其特征在于，所述根据所述第一干涉条纹的数量和预设处理器中的数据，测算出所述待测光源的第一波长的步骤包括：

获取所述预设处理器中所述第二波长和所述第二干涉条纹的数量，并根据所述第二波长、所述第二干涉条纹的数量和所述第一干涉条纹的数量，测算出所述待测光源的所述第一波长。

7.如权利要求6所述的波长测算方法，其特征在于，所述获取所述预设处理器中所述第二波长和所述第二干涉条纹的数量，并根据所述第二波长、所述第二干涉条纹的数量和所述第一干涉条纹的数量，测算出所述待测光源的所述第一波长的步骤之后，所述波长测算方法还包括：

将所述第一波长与所述第二波长进行对比，若所述第一波长与所述第二波长的差值在预设差值阈值内，则确定所述待测光源符合预设波长要求。

8.一种波长测算装置，其特征在于，所述波长测算装置包括：

检测模块，用于在检测到测算指令时，将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光；

测算模块，用于将所述待测线偏振光输入固定光路，得到第一干涉条纹的数量，并根据所述第一干涉条纹的数量和预设处理器中的数据，测算出所述待测光源的第一波长。

9.一种波长测算设备，其特征在于，所述波长测算设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的波长测算程序，所述波长测算程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的波长测算方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有波长测算程序，所述波长测算程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的波长测算方法的步骤。