[发明专利]一种电容液位计及液位测量方法、系统、存储介质在审

专利信息
申请号: 202110866423.1 申请日: 2021-07-29
公开(公告)号: CN113503938A 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 朱三江 申请(专利权)人: 湖南铱镝艾姆流体科技有限公司
主分类号: G01F23/26 分类号: G01F23/26
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 赵琴娜
地址: 410007 湖南省长沙*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 电容 液位计 测量方法 系统 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种电容液位计,其特征在于,包括:

内电极,包括多个首尾依次相邻设置的内子电极,且相邻两个所述内子电极之间绝缘,多个所述内子电极的高度相等,每个所述内子电极皆具有用于独立连接变送器的信号输出端;

外电极,与所述内电极同轴设置,用于与每个所述内子电极形成子电容。

2.根据权利要求1所述的电容液位计,其特征在于,所述电容液位计还包括中间绝缘体,多个所述内子电极依次交错布置所述中间绝缘体上。

3.根据权利要求1所述的电容液位计,其特征在于,所述内电极包括的所述内子电极的数量至少为5个。

4.根据权利要求1或3所述的电容液位计,其特征在于,每个所述内子电极的高度至少为30mm。

5.根据权利要求1所述的电容液位计,其特征在于,每个所述内子电极采用金属圆棒或金属圆管。

6.一种液位测量方法,基于如权利要求1至5任一所述的电容液位计,其特征在于,包括以下步骤:

获取每个所述子电容的电容值,所述子电容总数为L,其中,完全处于第一介质中的所述子电容的电容值为第一电容值,完全处于第二介质中的所述子电容的电容值为第二电容值,与液面对应的所述子电容的电容值为第三电容值;

依据第一电容值确定L个所述子电容中完全处于所述第一介质中的所述子电容的数目M;

依据所述第一电容值、所述第二电容值、所述第三电容值以及所述内子电极的高度数据计算出与液面对应的所述子电容的相对高度信息;

依据每个所述子电容的高度数据、所述数目M和所述相对高度信息计算出实际液位高度。

7.根据权利要求6所述的液位测量方法,其特征在于,计算出与液面对应的所述子电容的相对高度信息的约束公式为:

hd=(E-B)h/(A-B)

式中,hd为所述相对高度信息,A为所述第一电容值,B为所述第二电容值,E为所述第三电容值。

8.根据权利要求6所述的液位测量方法,其特征在于,确定所述第一介质为待测液体,所述依据每个所述子电容的高度数据、所述数目M和所述相对高度信息计算出实际液位高度包括以下步骤:

依据所述数目M计算出第一高度信息;

利用所述第一高度信息和所述相对高度信息计算出所述实际液位高度。

9.一种液位测量系统,其特征在于,包括:

如权利要求1至5任一所述的电容液位计;

变送器,分别与多个所述内子电容连接;

处理器,与所述变送器连接,用于获取变送器采集的多个所述子电容的电容值并计算出所述电容液位计检测的实际液位高度。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于:所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令用于使计算机执行如权利要求6至8任一所述的一种液位测量方法。

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