[发明专利]显示面板及其测试方法

说明书

本发明实施例公开了一种显示面板及其测试方法。该显示面板包括：多个触控电极、多条触控信号线、多个触控端子、测试模块、初始化模块、测试信号线、初始化信号线、第一控制信号线、第二控制信号线和信号端子；测试模块连接第一控制信号线、测试信号线和触控端子，用于响应于第一控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将测试信号线上的信号传输至触控端子；初始化模块连接第二控制信号线、初始化信号线和触控端子，用于响应于第二控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将初始化信号线上的信号传输至触控端子。本发明实施例的技术方案，能够在邦定触控芯片之前，对显示面板的触控性能进行测试。

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其测试方法。

背景技术

目前，触控显示装置中通常包括多个触控电极和多条触控信号线，触控电极通过对应的触控信号线连接触控芯片。在触控显示装置的各段工艺制程中，需要对触控电极和触控信号线的性能进行测试，然而，在邦定触控芯片之前，难以对触控电极和触控信号线进行测试，不利于不良品的筛查。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板及其测试方法，以在邦定触控芯片之前，对显示面板的触控性能进行测试。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：

多个触控电极、多条触控信号线和多个触控端子，所述触控端子位于所述显示面板的非显示区，所述触控电极通过对应的所述触控信号线连接所述触控端子；

测试模块、初始化模块、测试信号线、初始化信号线、第一控制信号线、第二控制信号线和信号端子，均位于所述非显示区；所述测试信号线、所述初始化信号线、所述第一控制信号线和所述第二控制信号线分别连接对应的所述信号端子；所述测试模块连接所述第一控制信号线、所述测试信号线和所述触控端子，用于响应于所述第一控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将所述测试信号线上的信号传输至所述触控端子；所述初始化模块连接所述第二控制信号线、所述初始化信号线和所述触控端子，用于响应于所述第二控制信号线上的信号而导通或关断，并在导通时将所述初始化信号线上的信号传输至所述触控端子。

可选地，所述测试模块包括第一开关，所述初始化模块包括第二开关；

每个所述触控端子均通过一所述第一开关连接所述测试信号线，并通过一所述第二开关连接所述初始化信号线；所述第一开关的控制端连接所述第一控制信号线，所述第一开关用于响应于所述第一控制信号线上的信号而导通或断开所述测试信号线和对应的所述触控端子；所述第二开关的控制端连接所述第二控制信号线，所述第二开关用于响应于所述第二控制信号线上的信号而导通或断开所述初始化信号线和对应的所述触控端子。

可选地，各所述触控端子划分为m个触控端子组，每个所述触控端子组均包括n个所述触控端子，不同所述触控端子组的所述触控端子不同；所述测试信号线的数量包括n条，所述第一控制信号线和所述第二控制信号线的数量均为m条；其中m≥2，n≥2；

每个所述触控端子组连接的n个所述第一开关与n条所述测试信号线一一对应连接，第i个所述触控端子组连接的各所述第一开关的控制端均连接第i条所述第一控制信号线，第i个所述触控端子组连接的各所述第二开关的控制端均连接第i条所述第二控制信号线；其中，1≤i≤m。

可选地，所述第一开关包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极连接对应的所述第一控制信号线，所述第一晶体管的第一极连接对应的所述测试信号线，所述第一晶体管的第二极连接对应的所述触控端子；

所述第二开关包括第二晶体管，所述第二晶体管的栅极连接对应的所述第二控制信号线，所述第二晶体管的第一极连接所述初始化信号线，所述第二晶体管的第二极连接对应的所述触控端子。