[发明专利]一种模拟数字转换器测试方法

说明书

本发明公开了一种模拟数字转换器测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：选定测试的模拟数字转换器和测试系统；步骤S2：信号的输入，模拟信号源产生幅度，并对模拟数字转换器的每个最低有效位进行等分等步骤。本发明利用通用性测试平台，充分的利用现有技术实现对模拟数字转换器进行测试操作，便于对模拟数字转换器的测试数据的收集和分析，使得测试方便；通过对模拟数字转换器测试数据进行分析，可以实现对模拟数字转换器测试结果的量化处理操作，从而可以方便且准确的测试出模拟数字转换器质量。本发明具有测试方便和实现测试结果量化的优点。

技术领域

本发明涉及模拟数字转换器技术领域，具体为一种模拟数字转换器测试方法。

背景技术

模拟数字转换器，是把经过与标准量(或参考量)比较处理后的模拟量转换成以二进制数值表示的离散信号的转换器，简称ADC或A/D转换器。模数转换过程包括量化和编码，量化是将模拟信号量程分成许多离散量级，并确定输入信号所属的量级，编码是对每一量级分配唯一的数字码，并确定与输入信号相对应的代码。现有技术之中模拟数字转换器的使用十分的广泛，因此对于模拟数字转换器的测试十分的有必要。

现有技术之中对于模拟数字转换器的测试操作十分的不便，极易导致误差，并且无法很好的对模拟数字转换器进行量化的体现与处理，从而无法很好的对模拟数字转换器的测试操作。基于以上的原因，本发明提出一种模拟数字转换器测试方法来解决现有技术的不足。

发明内容

本发明解决的技术问题在于克服现有技术的测试不便和效果差的缺陷，提供一种模拟数字转换器测试方法。所述一种模拟数字转换器测试方法具有测试方便和实现测试结果量化等特点。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种模拟数字转换器测试方法，包括以下步骤：

步骤S1：选定测试的模拟数字转换器和测试系统；

步骤S2：信号的输入，模拟信号源产生幅度，并对模拟数字转换器的每个最低有效位进行等分；

步骤S3：通过测试系统对模拟数字转换器的数据进行收集；

步骤S4：对收集的测试数据进行差分非线性度分析，得到模拟数字转换器的每个最低有效位的数值点；

步骤S5：根据得到的模拟数字转换器的每个最低有效位的数值点，对模拟数字转换器的整体非线性度分析，得到模拟数字转换器的每个最低有效位的数值点上对应的模拟值；

步骤S6：对得到的模拟值进行失调误差分析；

步骤S7：通过得到的失调误差值，对模拟数字转换器进行增益误差分析，最后通过对增益误差值的分析，便可得出模拟数字转换器的性能。

作为本发明的进一步方案，所述步骤S1中的模拟数字转换器为12位TLC2543模数转换器，测试系统为J750大型数模混合测试系统平台。

作为本发明的进一步方案，所述步骤S2中程控模拟信号源产生幅度为模拟数字转换器满量的模拟斜坡信号，将模拟数字转换器的每个最低有效位进行N等分，其中，N为非负整数，且N＞0。

作为本发明的进一步方案，所述步骤S3中对模拟数字转换器的每个最低有效位的理想码宽数据进行收集。

作为本发明的进一步方案，所述步骤S4的中差分非线性度分析中，通过公式：

中差分非线性度(DNL)＝(实际码宽-理想码宽)/1LSB

计算出模拟数字转换器的每个最低有效位的数值点；其中，LSB为模拟数字转换器的最低有效位所表示的量。

作为本发明的进一步方案，所述步骤S5中整体非线性度分析中，通过公式：