[发明专利]基线更新、相对状态检测方法和系统、电子设备

权利要求书

1.一种基线更新方法，其特征在于，包括：

获取电容传感器在各个采样时刻的电容变化量与对应的基线值之间的差值，得到第一检测差值；

根据所述第一检测差值与检测阈值之间的关系识别所述电容传感器与参照物在所述各个采样时刻的参考相对状态；其中，所述检测阈值用于识别所述第一检测差值表征的电容传感器与参照物之间的相对状态；

根据各个采样时刻的参考相对状态获取各个采样时刻的基线更新规则，以更新各个采样时刻的基线值。

2.根据权利要求1所述的基线更新方法，其特征在于，所述参考相对状态包括第一相对状态和第二相对状态；所述第一相对状态和所述第二相对状态对应不同的基线更新规则；

所述根据各个采样时刻的参考相对状态获取各个采样时刻的基线更新规则，以更新各个采样时刻的基线值包括：

在所述第一相对状态下，采用电容变化量跟踪式确定各个采样时刻的基线值；其中，所述电容变化量跟踪式用于跟踪所述电容变化量；

在所述第二相对状态下，获取所述电容变化量的变化参数；根据所述变化参数获取当前环境对应的基线更新规则；其中，所述变化参数用于表征所述电容变化量在设定时段的变化特征。

3.根据权利要求2所述的基线更新方法，其特征在于，所述检测阈值包括正噪声阈值；

所述根据所述第一检测差值与检测阈值之间的关系识别所述电容传感器与参照物在所述各个采样时刻的参考相对状态包括：

在所述第一检测差值小于所述正噪声阈值时，判定所述电容传感器与参照物在对应的采样时刻处于所述第一相对状态；在所述第一检测差值大于或者等于所述正噪声阈值时，判定所述电容传感器与参照物在对应的采样时刻处于所述第二相对状态。

4.根据权利要求3所述的基线更新方法，其特征在于，在判定所述电容传感器与参照物在对应的采样时刻处于所述第一相对状态之后，所述基线更新方法还包括：

若所述第一检测差值连续m1次均小于温度升高阈值，将所述基线值冻结m2次；所述温度升高阈值用于识别所述电容传感器所处的温度升高环境。

5.根据权利要求4所述的基线更新方法，其特征在于，在将所述基线值冻结m2次之后，所述基线更新方法还包括：

将当前采样时刻的基线值确定为当前采样时刻的电容变化量。

6.根据权利要求2所述的基线更新方法，其特征在于，所述变化参数包括第一级描述参数和第二级描述参数；所述第一级描述参数用于表征所述电容变化量在设定时段的变化趋势；所述第二级描述参数用于表征所述电容变化量在设定时段对应的曲线的弯曲特征；

所述根据所述变化参数获取当前环境对应的基线更新规则包括：

根据所述第一级描述参数和第二级描述参数判断所述电容传感器处于抖动环境或者非抖动环境；

若所述电容传感器处于抖动环境，将所述基线值冻结m3次；若所述电容传感器处于非抖动环境，根据所述第一级描述参数更新所述基线值。

7.根据权利要求6所述的基线更新方法，其特征在于，所述根据所述第一级描述参数和第二级描述参数判断所述电容传感器处于抖动环境或者非抖动环境包括：

若所述第一级描述参数和第二级描述参数符合环境识别式，则判定所述电容传感器处于非抖动环境；若所述第一级描述参数和第二级描述参数不符合所述环境识别式，则判定所述电容传感器处于抖动环境；其中，所述环境识别式包括：w_th1ww_th2，w_r_th1w_rw_r_th2，w表示第一级描述参数，w_th1表示第一级最小阈值，w_th2表示第一级最大阈值，w_r表示第二级描述参数，w_r_th1表示第二级最小阈值，w_r_th2表示第二级最大阈值。