[发明专利]快轴透镜综合性能测试装置及测试方法

权利要求书

1.快轴透镜综合性能测试装置，其特征在于，包括：

激光器（250），所述激光器（250）用于提供激光光束作为测试光源；

被测快轴透镜（330）；

慢轴透镜（410）；

衰减分光膜片（420）；

光斑测试组件（400）；

功率测试组件（600）；

温度测试组件（500）；

所述被测快轴透镜（330）、慢轴透镜（410）和衰减分光膜片（420）沿所述激光器（250）的激光光束方向依次设置；

所述激光器（250）的激光光束经所述被测快轴透镜（330）后，经所述慢轴透镜（410）形成准直光斑，再经过所述衰减分光膜片（420）分为透射光和反射光，透射光和反射光中的一束光进入光斑测试组件（400），另一束光进入功率测试组件（600）；

所述温度测试组件（500）设置于被测快轴透镜（330）侧方。

2.根据权利要求1所述的快轴透镜综合性能测试装置，其特征在于：所述激光器（250）为半导体激光器，所述激光器（250）与热沉（240）、制冷器（230）中的至少一个相连接，或者所述激光器（250）依次与热沉（240）和制冷器（230）相连接。

3.根据权利要求1所述的快轴透镜综合性能测试装置，其特征在于：所述被测快轴透镜（330）通过夹持机构（300）设置于所述激光器（250）输出端。

4.根据权利要求1所述的快轴透镜综合性能测试装置，其特征在于：所述光斑测试组件（400）设置为光斑分析仪或感光卡。

5.根据权利要求1所述的快轴透镜综合性能测试装置，其特征在于：所述功率测试组件（600）设置为光功率计、碳斗或积分球。

6.根据权利要求1所述的快轴透镜综合性能测试装置，其特征在于：所述温度测试组件（500）设置为非接触式温度检测仪或接触式热敏探测设备。

7.根据权利要求1所述的快轴透镜综合性能测试装置，其特征在于：所述激光器（250）与可调恒流电源（210）之间通过电连接，所述激光器（250）的驱动功率可调节。

8.根据权利要求3任一项所述的快轴透镜综合性能测试装置，其特征在于：所述激光器（250）、夹持机构（300）、慢轴透镜（410）、衰减分光膜片（420）、光斑测试组件（400）、功率测试组件（600）、温度测试组件（500）分别固定或者可调节的设置在测试平台（100）上。

9.根据权利要求7所述的快轴透镜综合性能测试装置，其特征在于：所述可调恒流电源（210）、光斑测试组件（400）、功率测试组件（600）、温度测试组件（500）分别与控制终端相连接，由控制终端控制测试操作及数据记录，所述控制终端设置为计算机或平板电脑。

10.快轴透镜综合性能测试装置的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：

夹持机构将被测快轴透镜置于激光器输出端；

激光器的激光光束经快轴透镜、慢轴透镜后形成近方形光斑，经衰减分光膜片后分束；

通过可调恒流电源调节激光器的驱动功率，分别通过光斑测试组件、功率测试组件或温度测试组件测试被测快轴透镜的输出光斑分布、输出光能量或工作温度的至少一个性能，获取测试数据后，夹持机构移动并取出被测快轴透镜。