[发明专利]一种TSR型无衰减滤波电容器

说明书

本发明涉及一种TSR型无衰减滤波电容器，包括壳体、出线套管、接线柱、填充介质、放电电阻、内熔丝和芯子。壳体为一面开口的柱形壳体，在开口端与接线柱连接；接线柱的柱体部分被出线套管从接线柱的接口部分包裹至壳体的开口端；每个芯子连接一个内熔丝，m个芯子和1个放电电阻并联构成1个芯子组；n个芯子组串联，构成一个电容阵列，并通过填充介质和壳体内表面连接。电容阵列工作时，实时检测电容阵列的电容量，若电容量为m×n‑km+1，k＝1,2，…，n‑1，检测电容阵列中每个芯子的工作状态，若某1个芯子组中的m‑1个芯子工作状态异常，则电容器停止工作。本发明涉及的TSR型无衰减滤波电容器通过检测电容阵列中芯子的温度，延长了电容器的使用寿命。

技术领域

本发明涉及电容器领域，尤其涉及一种TSR型无衰减滤波电容器。

背景技术

电容器是指两个相互靠近的导体，中间夹一层不导电的绝缘介质。当电容器的两个极板之间加上电压时，电容器就会储存电荷。电容器在调谐、旁路、耦合、滤波等电路中起着重要的作用。滤波电容器是一种储能器件，常安装在整流电路两端用以降低交流脉动波纹系数以提升高效平滑直流输出。

然而，现有的电容器往往由于电容芯子容易损坏等原因，导致电容器整体无法使用，存在电容器的使用寿命较短等问题。

发明内容

为此，本发明提供一种TSR型无衰减滤波电容器，解决了现有的电容器的使用寿命较短的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种TSR型无衰减滤波电容器，包括：包括放电电阻、内熔丝和芯子，每个芯子连接一个内熔丝，m个芯子和1个放电电阻并联构成1个芯子组，n个芯子组串联，构成一个电容阵列；

在每个芯子和它所连接的内熔丝之间设置温度传感器，假设电容阵列的额定电容量为S，预先设置有标准温度矩阵T(T1(t11，t12，…，t1m)，T2(t21，t22，…，t2m)，…，Tn(tn1，tn2，…，tnm))，其中T1表示第1个芯子组的标准温度列表，tnm表示第n个芯子组中第m个芯子的标准温度，所述标准温度矩阵T通过在电容阵列初次工作时，检测并记录电容阵列内部每个芯子的温度获得；

在电容阵列工作的过程中，实时检测电容阵列当前的电容量，若电容量为(m×n-k×m+1)×S，k＝1,2，…，n-1，设置温度阈值△t，通过每个芯子对应的温度传感器，实时检测电容阵列内部每个芯子的温度并记录为检测温度矩阵C(C1(c11，c12，…，c1m)，C2(c21，c22，…，c2m)，…，Cn(cn1，cn2，…，cnm))，其中C1表示第1个芯子组的检测温度列表，cnm表示第n个芯子组中第m个芯子的检测温度；实时检测电容阵列中所有芯子的工作状态，若某1个芯子组中的m-1个芯子工作状态异常，则电容阵列停止工作。

进一步地，若对于第n个芯子组中的第m个芯子，在电容阵列工作中的任意时刻，其标准温度与检测温度的差值大于温度阈值，即tnm-cnm＞△t，则判定该芯子工作状态异常；

若对于第n个芯子组中的第m个芯子，在电容阵列工作中的任意时刻，其标准温度与检测温度的差值小于或等于温度阈值，即tnm-cnm≤△t，则判定该芯子在该时刻工作状态正常。

进一步地，实时检测电容阵列中所有芯子的工作状态，还包括：设置时间间隔△T，检测每个芯子在每个时间间隔△T中的温度变化量，并根据在每个时间间隔△T中的温度变化量和时间间隔△T计算出每个芯子在每个时间间隔△T中的温度变化速率，对于第n个芯子组中的第m个芯子，其温度变化速率用vnm表示；

设置温度变化临界速率v0，对于第n个芯子组中的第m个芯子，在电容阵列工作中，若在任意一个时间间隔△T中，该芯子的温度变化速率大于温度变化临界速率，即vnm＞v0，则判定该芯子工作状态异常；