[发明专利]一种TSR型无衰减滤波电容器

权利要求书

1.一种TSR型无衰减滤波电容器，其特征在于，包括放电电阻、内熔丝和芯子，每个芯子连接一个内熔丝，m个芯子和1个放电电阻并联构成1个芯子组，n个芯子组串联，构成一个电容阵列；

在每个芯子和它所连接的内熔丝之间设置温度传感器，假设电容阵列的额定电容量为S，预先设置有标准温度矩阵T(T1(t11，t12，…，t1m)，T2(t21，t22，…，t2m)，…，Tn(tn1，tn2，…，tnm))，其中T1表示第1个芯子组的标准温度列表，tnm表示第n个芯子组中第m个芯子的标准温度，所述标准温度矩阵T通过在电容阵列初次工作时，检测并记录电容阵列内部每个芯子的温度获得；

在电容阵列工作的过程中，实时检测电容阵列当前的电容量，若电容量为(m×n-k×m+1)×S，k＝1,2，…，n-1，设置温度阈值△t，通过每个芯子对应的温度传感器，实时检测电容阵列内部每个芯子的温度并记录为检测温度矩阵C(C1(c11，c12，…，c1m)，C2(c21，c22，…，c2m)，…，Cn(cn1，cn2，…，cnm))，其中C1表示第1个芯子组的检测温度列表，cnm表示第n个芯子组中第m个芯子的检测温度；实时检测电容阵列中所有芯子的工作状态，若某1个芯子组中的m-1个芯子工作状态异常，则电容阵列停止工作。

2.根据权利要求1所述的TSR型无衰减滤波电容器，其特征在于，实时检测电容阵列中所有芯子的工作状态，包括：

若对于第n个芯子组中的第m个芯子，在电容阵列工作中的任意时刻，其标准温度与检测温度的差值大于温度阈值，即tnm-cnm＞△t，则判定该芯子工作状态异常；

若对于第n个芯子组中的第m个芯子，在电容阵列工作中的任意时刻，其标准温度与检测温度的差值小于或等于温度阈值，即tnm-cnm≤△t，则判定该芯子在该时刻工作状态正常。

3.根据权利要求2所述的TSR型无衰减滤波电容器，其特征在于，实时检测电容阵列中所有芯子的工作状态，还包括：设置时间间隔△T，检测每个芯子在每个时间间隔△T中的温度变化量，并根据在每个时间间隔△T中的温度变化量和时间间隔△T计算出每个芯子在每个时间间隔△T中的温度变化速率，对于第n个芯子组中的第m个芯子，其温度变化速率用vnm表示；

设置温度变化临界速率v0，对于第n个芯子组中的第m个芯子，在电容阵列工作中，若在任意一个时间间隔△T中，该芯子的温度变化速率大于温度变化临界速率，即vnm＞v0，则判定该芯子工作状态异常；

对于第n个芯子组中的第m个芯子，在电容阵列工作中，若在任意一个时间间隔△T中，该芯子的温度变化速率小于或等于温度变化临界速率，即vnm≤v0，则判定该芯子在该时间间隔△T中工作状态正常。

4.根据权利要求3所述的TSR型无衰减滤波电容器，其特征在于，还包括：处理器，所述处理器预先设置标准温度矩阵T、当前电容量、温度阈值△t、检测温度矩阵C、时间间隔△T、温度变化临界速率v0和每个芯子的温度变化速率；

在电容阵列初次工作时，通过每个芯子对应的温度传感器检测每个芯子的温度，并赋值至标准温度矩阵T；在电容阵列工作的过程中，实时检测电容阵列当前的电容量并赋值至当前电容量；输入温度阈值△t；在电容阵列工作的过程中，通过每个芯子对应的温度传感器检测每个芯子的温度，并赋值至检测温度矩阵C；输入时间间隔△T；输入温度变化临界速率v0；在电容阵列工作的过程中，通过每个芯子对应的温度传感器检测每个芯子在每个时间间隔△T开始时的温度ta和结束时的温度tb，并计算该芯子的温度变化速率，该芯子的温度变化速率为(ta-tb)/△T；

在检测电容阵列中所有芯子的工作状态时，对于第n个芯子组中的第m个芯子，比较tnm-cnm与△t的大小关系；比较vnm与v0的大小关系；

根据上述比较结果，判定每个芯子在每个时刻或每个时间间隔△T中的工作状态；

汇总上述判定结果，若某1个芯子组中的m-1个芯子工作状态异常，则所述处理器发出令电容阵列停止工作的指令。

5.根据权利要求4所述的TSR型无衰减滤波电容器，其特征在于，还包括：壳体和填充介质，所述壳体为一面开口的柱形壳体，所述壳体的内表面通过所述填充介质与所述电容阵列连接。