[发明专利]一种平面楔块超声表面波探头性能参数测定方法及装置

权利要求书

1.一种平面楔块超声表面波探头性能参数测定方法，其特征在于，包括：

将两个性能参数相同的平面楔块超声表面波探头(1)中心对称放置并耦合，两个平面楔块超声表面波探头(1)分别与超声检测仪器(2)的发射接口和接收接口连接，超声检测仪器(2)设置为双晶模式，通过超声检测仪器(2)获得两个平面楔块超声表面波探头的直射波信号，水平调整两个平面楔块超声表面波探头(1)的相对位置，直至直射波信号幅值达到最高；

测量两个平面楔块超声表面波探头(1)平面楔块的重叠区域长度，入射点位于重叠区域长度的中点，前沿长度为重叠区域长度的一半，零位为直射波信号传播时间的一半。

2.根据权利要求1所述的平面楔块超声表面波探头性能参数测定方法，其特征在于，所述性能参数包括中心频率、带宽、电阻抗、相对脉冲回波灵敏度、晶片材质、晶片尺寸、晶片形状、平面楔块材质、平面楔块尺寸、平面楔块形状和探头外壳尺寸。

3.一种平面楔块超声表面波探头性能参数测定装置，其特征在于，包括支座(4-1)、第一固定支架(4-2-1)和第二固定支架(4-2-2)；第一固定支架(4-2-1)和第二固定支架(4-2-2)分别通过平移机构与支座(4-1)连接，并能够在支座(4-1)上进行水平移动；第一固定支架(4-2-1)与支座(4-1)之间、第二固定支架(4-2-2)与支座(4-1)之间均分别设有锁紧装置；第一固定支架(4-2-1)上连接有第一夹具(4-5-1)，第二固定支架(4-2-2)上连接有第二夹具(4-5-2)。

4.根据权利要求3所述的平面楔块超声表面波探头性能参数测定装置，其特征在于，第一固定支架(4-2-1)包括伸缩杆，伸缩杆与平移机构连接，并且伸缩杆的端部与第一夹具(4-5-1)铰接；第二固定支架(4-2-2)包括伸缩杆，伸缩杆与平移机构连接，并且伸缩杆的端部与第二夹具(4-5-2)铰接。

5.根据权利要求4所述的平面楔块超声表面波探头性能参数测定装置，其特征在于，伸缩杆上设有长度标识，第一夹具(4-5-1)和第二夹具(4-5-2)上设有角度标识。

6.根据权利要求3所述的平面楔块超声表面波探头性能参数测定装置，其特征在于，平移机构为滑块滑轨机构，滑轨与支座(4-1)固定连接，第一固定支架(4-2-1)和第二固定支架(4-2-2)分别与两个滑块连接，两个滑块与滑轨连接。

7.根据权利要求3所述的平面楔块超声表面波探头性能参数测定装置，其特征在于，平移机构为滚珠丝杠机构，丝杠副与支座(4-1)固定连接，第一固定支架(4-2-1)和第二固定支架(4-2-2)分别与两个螺母副连接，两个螺母副与丝杠副连接。

8.根据权利要求3所述的平面楔块超声表面波探头性能参数测定装置，其特征在于，第一夹具(4-5-1)和第二夹具(4-5-2)上均设有弹性隔层。

9.根据权利要求3所述的平面楔块超声表面波探头性能参数测定装置，其特征在于，支座(4-1)上部连接有手柄(4-3)。

10.根据权利要3所述的平面楔块超声表面波探头性能参数测定装置，其特征在于，支座(4-1)底部设有若干滑轮(4-4)，滑轮(4-4)连接有锁紧装置。