[发明专利]单片的变质的多结太阳能电池有效
申请号: | 202110783595.2 | 申请日: | 2021-07-12 |
公开(公告)号: | CN113921644B | 公开(公告)日: | 2023-07-14 |
发明(设计)人: | M·莫伊泽尔;A·贝格;P·施罗特;S·施赖埃尔 | 申请(专利权)人: | 阿聚尔斯佩西太阳能有限责任公司 |
主分类号: | H01L31/0725 | 分类号: | H01L31/0725;H01L31/0735 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 郭毅 |
地址: | 德国海*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 单片 变质 太阳能电池 | ||
1.一种单片的变质的多结太阳能电池,所述单片的变质的多结太阳能电池包括:
第一III-V族子电池(SC1),
第二III-V族子电池(SC2),
第三III-V族子电池(SC3),
第四Ge子电池(SC4),其中,所述第一III-V族子电池(SC1)、所述第二III-V族子电池(SC2)、所述第三III-V族子电池(SC3)和所述第四Ge子电池(SC4)按顺序彼此相继堆叠,且所述第一III-V族子电池(SC1)构造最上方的子电池,
在所述第三III-V族子电池(SC3)和所述第四Ge子电池(SC4)之间构造有变质缓冲层(MP1),
所述第一III-V族子电池(SC1)、所述第二III-V族子电池(SC2)、所述第三III-V族子电池(SC3)和所述第四Ge子电池(SC4)分别具有n掺杂的发射极层和p掺杂的基极层,
在所述第一III-V族子电池(SC1)、所述第三III-V族子电池(SC3)和所述第四Ge子电池(SC4)中,所述发射极层的厚度分别小于相关的基极层的厚度,
在所述第二III-V族子电池(SC2)中,所述发射极层的厚度大于所述基极层的厚度,
在两个彼此相继的子电池之间构造有隧道二极管,其中,在所述第一III-V族子电池(SC1)与所述第二III-V族子电池(SC2)构造有第一隧道二极管(TD1),且在所述第二III-V族子电池(SC2)与所述第三III-V族子电池(SC3)之间构造有第二隧道二极管(TD2),且在所述第三子电池(SC3)与所述第四Ge子电池(SC4)之间构造有第三隧道二极管(TD3),
在所述第一III-V族子电池(SC1)中,所述发射极层的厚度分别小于相关的基极层的厚度,
在所述第二III-V族子电池(SC2)中,所述发射极层包括InGaAsP或由InGaAsP组成,
所述第一III-V族子电池(SC1)具有由至少元素AlInP构成的化合物。
2.根据权利要求1所述的单片的变质的多结太阳能电池,其特征在于,所述第二III-V族子电池(SC2)的发射极层具有大于600nm的厚度。
3.根据权利要求1或2所述的单片的变质的多结太阳能电池,其特征在于,所述第二III-V族子电池(SC2)的基极层具有小于450nm的厚度和/或大于4·1017/cm3的掺杂。
4.根据权利要求1或2所述的单片的变质的多结太阳能电池,其特征在于,在所述第二III-V族子电池(SC2)中,所述发射极层的砷含量关于V主族的元素位于22%和33%之间,且所述发射极层的铟含量关于III主族的元素位于52%和65%之间,且所述发射极层的晶格常数在0.572nm和0.577nm之间。
5.根据权利要求1或2所述的单片的变质的多结太阳能电池,其特征在于,所述第二III-V族子电池(SC2)构造为异质电池。
6.根据权利要求1或2所述的单片的变质的多结太阳能电池,其特征在于,在所述第二III-V族子电池(SC2)中,所述基极层包括InGaAsP或InGaP或AlInGaP或InAlP或AlInAs,或者所述基极层由InGaAsP或由InGaP或由AlInGaP或由InAlP或由AlInAs组成。
7.根据权利要求1或2所述的单片的变质的多结太阳能电池,其特征在于,所述第一III-V族子电池(SC1)具有在1.85eV和2.07eV之间的范围内的带隙,且所述第二III-V族子电池(SC2)具有在1.41eV和1.53eV之间的范围内的带隙,且所述第三III-V族子电池(SC3)具有在1.04eV和1.18eV之间的范围内的带隙。
8.根据权利要求1或2所述的单片的变质的多结太阳能电池,其特征在于,在所述第一III-V族子电池(SC1)中,铟含量关于III主族的元素位于64%和75%之间,且Al含量位于18%和32%之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的