[发明专利]一种用于校准分焦平面偏振相机像元非均匀性的方法有效
申请号: | 202110778833.0 | 申请日: | 2021-07-09 |
公开(公告)号: | CN113473114B | 公开(公告)日: | 2023-05-05 |
发明(设计)人: | 张丹;王辉;李燕;夏光辉;余义德;孙杰;张厚强 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军91550部队 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00;G06T7/80 |
代理公司: | 天津耀达律师事务所 12223 | 代理人: | 侯力 |
地址: | 116023 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 校准 平面 偏振 相机 像元非 均匀 方法 | ||
1.一种用于校准分焦平面偏振相机像元非均匀性的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
步骤(1)、采用均匀发光的面阵光源,调节分焦平面偏振相机,垂直对准该面阵光源;
步骤(2)、固定偏振相机,保证后续拍摄过程中相机位置不变,连续拍摄N副图像,求得平均值图像Di表示第i幅图像,(i=1,2…N),以降低随机噪声;
步骤(3)、根据步骤(2)获得的平均值图像分别对0°、45°、90°、135°偏振方向的图像进行拟合,得到拟合图像包括和选取小窗u×v,利用条件其中表示在求极值过程中遍历的任意曲面在5×5小窗中的取值,得到拟合数据即计算像元(x,y)处的拟合值1≤x≤m,1≤y≤n,m×n为某偏振方向图像的分辨率;平均值图像和拟合图像求差,得到当前光强I下的非均匀校准矩阵拟合方法采用二次曲面拟合、平面拟合或平均值法;在光强分布均匀的条件下,采用平面拟合或平均值法;在光强分布不均匀的条件下,采用二次曲面拟合,但是会降低校准的速度;
步骤(4)、在不同的光强下重复以上步骤(1)至步骤(3),测得各个像元在不同光强下的非均匀校准矩阵其中k,d为的校准系数;根据不同光强下的拟合求得用于校准相机非均匀性的校准系数[k(x,y),d(x,y)];
步骤(5)、对任意拍摄图像,利用校准系数求得各个像素处的校准值,得到非均匀校准矩阵Dcalibration(x,y)=k(x,y)D(x,y)+d(x,y),进而可以计算得到校准后的优化图像Dt(x,y)=D(x,y)+k(x,y)D(x,y)+d(x,y),其中,D(x,y)为未校准前相机测量灰度值。
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