[发明专利]一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备

说明书

本发明涉及机电设备技术领域，且公开了一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备，包括底座，所述底座的底部转动连接有驱动机构，所述底座的右端转动连接有压紧机构，所述底座的顶部中心转动连接有吸附机构，所述底座顶部的左侧固定连接有检测组件，所述底座的上方设置有铜盘。该旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备，通过压紧机构下压铜盘，使升降座下移，磁块二受增大的吸引力作用带动活塞板向下收拢，减小活塞板所围成空间压强，达到吸附铜盘的效果，通过下压压杆使触点连通，电机旋转配合半齿轮和齿盘的啮合，使齿盘带动环架间歇旋转，更改检测组件的采样平面，达到按压压杆时自动拨转检测平面的效果。

技术领域

本发明涉及机电设备技术领域，具体为一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备。

背景技术

光谱仪作为专用仪器，是测量物品元素种类成分的重要设备，光谱仪将成分复杂的光，分解为光谱线的科学仪器，通过光谱仪对光信息的抓取、显示和分析，从而测知物品中含有何种元素，铜管拔长前，需要测量铜盘内元素含量，以判定铜盘是否能投入加工，现有光谱仪在检测铜盘时，需要按压铜盘顶部，以保证检测组件于铜片接触表面密切连接，防止检测气体氦气逸出，但是对于大批量的铜片检测，重复按压降低了检测效率，不符合智能制造的生产理念，且对于同一块铜盘的成分检测一般会选取铜盘外围多个采样点进行检测，需要使用者手动拨转铜盘平面，铜盘表面与人手接触，使水分沾染到铜盘表面，降低了检测结果的准确性。

为解决上述问题，发明者提供了一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备，该旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备，通过压紧机构下压铜盘，使升降座下压弹簧二，随着磁块一和磁块二互相接近，磁块二受到吸引，带动活塞板向下收拢，减小铜盘下表面与活塞板所围成空间压强，达到下压时吸附铜盘下表面的效果，通过下压压杆使压杆右侧压缩弹簧一和触点，触发电机连通，在半齿轮和齿盘的啮合下，齿盘带动环架间歇旋转，更改检测组件的采样平面，达到按压压杆时自动拨转检测平面的效果。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备，具备下压时吸附铜盘下表面防止气体泄漏和按压压杆时自动拨转检测平面以获取不同采样点的优点，解决了铜盘表面与检测组件不密切贴合和需要人工拨转铜盘以获取多个采样点的问题。

(二)技术方案

为实现上述下压时吸附铜盘下表面防止气体泄漏和按压压杆时自动拨转检测平面以获取不同采样点的目的，本发明提供如下技术方案：一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备，包括底座，所述底座的底部转动连接有驱动机构，所述底座的右端转动连接有压紧机构，所述底座的顶部中心转动连接有吸附机构，所述底座顶部的左侧固定连接有检测组件，所述底座的上方设置有铜盘。

优选的，所述驱动机构包括半齿轮、电机、齿盘、环架、轴承，所述半齿轮轴心的顶端传动连接有电机，所述半齿轮的右侧啮合连接有齿盘，所述齿盘的顶部固定连接有环架，所述环架的内壁转动连接有轴承。

优选的，所述电机固定连接在底座顶部的左端，所述底座的底部分别转动连接有半齿轮和齿盘，所述环架转动连接在底座的中部，所述轴承的内壁卡接在底座的中部，通过齿盘转动带动环架相应旋转，配合轴承的转动减小环架与底座内壁的摩擦。

优选的，所述压紧机构包括T型杆、压杆、触点、弹簧一，所述T型杆的顶部转动连接有压杆，所述压杆的右端底部弹性连接有触点，所述压杆的右侧下表面弹性连接有弹簧一。

优选的，所述T型杆转动连接在底座的右端，所述T型杆的右侧通过弹簧一弹性连接有压杆，所述压杆接近底座一侧呈斜向结构，所述触点和电机电性连接，通过按下压杆使触点抵接连通控制电机的启闭，并同时解除压杆左端压紧铜盘的上表面。