[发明专利]一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备

权利要求书

1.一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的底部转动连接有驱动机构(2)，所述底座(1)的右端转动连接有压紧机构(3)，所述底座(1)的顶部中心转动连接有吸附机构(4)，所述底座(1)顶部的左侧固定连接有检测组件(5)，所述底座(1)的上方设置有铜盘(6)。

2.根据权利要求1所述的一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备，其特征在于：所述驱动机构(2)包括半齿轮(21)、电机(22)、齿盘(23)、环架(24)、轴承(25)，所述半齿轮(21)轴心的顶端传动连接有电机(22)，所述半齿轮(21)的右侧啮合连接有齿盘(23)，所述齿盘(23)的顶部固定连接有环架(24)，所述环架(24)的内壁转动连接有轴承(25)。

3.根据权利要求1或2所述的一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备，其特征在于：所述电机(22)固定连接在底座(1)顶部的左端，所述底座(1)的底部分别转动连接有半齿轮(21)和齿盘(23)，所述环架(24)转动连接在底座(1)的中部，所述轴承(25)的内壁卡接在底座(1)的中部。

4.根据权利要求1所述的一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备，其特征在于：所述压紧机构(3)包括T型杆(31)、压杆(32)、触点(33)、弹簧一(34)，所述T型杆(31)的顶部转动连接有压杆(32)，所述压杆(32)的右端底部弹性连接有触点(33)，所述压杆(32)的右侧下表面弹性连接有弹簧一(34)。

5.根据权利要求1、2或4所述的一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备，其特征在于：所述T型杆(31)转动连接在底座(1)的右端，所述T型杆(31)的右侧通过弹簧一(34)弹性连接有压杆(32)，所述压杆(32)接近底座(1)一侧呈斜向结构，所述触点(33)和电机(22)电性连接。

6.根据权利要求1所述的一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备，其特征在于：所述吸附机构(4)包括转盘(41)、磁块一(42)、限位槽一(43)、连杆组(44)、升降座(45)、弹簧二(46)、限位槽二(47)、活塞板(48)、磁块二(49)，所述转盘(41)的顶部固定连接有磁块一(42)，所述转盘(41)顶部的左右两侧开设有限位槽一(43)，所述限位槽一(43)的内部通过连杆组(44)传动连接有升降座(45)，所述升降座(45)底部的左右两端弹性连接有弹簧二(46)，所述升降座(45)顶部的左右两侧开设有限位槽二(47)，所述限位槽二(47)的内部限位连接有活塞板(48)，所述活塞板(48)的底端铰接有磁块二(49)。

7.根据权利要求1、2、4或6所述的一种旋转式改变采样位置的铜片光谱检测辅助设备，其特征在于：所述转盘(41)转动连接在底座(1)的顶部，所述转盘(41)的底端固定连接有环架(24)，所述转盘(41)的顶部内壁限位连接有升降座(45)，所述升降座(45)上表面放置有铜盘(6)，所述连杆组(44)的上下两端分别限位连接有升降座(45)和转盘(41)，所述活塞板(48)的外部与升降座(45)的内部相适配，所述活塞板(48)之间弹性连接有弹簧，所述磁块二(49)和磁块一(42)相对应面磁极方向相反。