[发明专利]一种西瓜徒长苗无损判定方法

说明书

本发明公开了一种西瓜徒长苗无损判定方法。该方法用于对西瓜徒长苗和正常苗进行判定，首先获取西瓜穴盘苗的表型参数，再对测量获得的表型数据进行预处理，补偿测量误差，再获取徒长值Z，最后根据徒长值Z的大小对徒长苗和正常苗进行判定，并且提供了具体的判定规则。本发明通过数据的直观定量分析，可以弥补人工筛选的不足。建立的徒长苗无损判定规则具有很强的适用性，可用于各个生长期的西瓜苗。西瓜苗的表型数据可通过图像识别等无损测量方式获取，从而实现对幼苗的大规模智能化检测。本发明能够减少人工育苗筛选的工作量，显著降低生产成本。

技术领域

本发明属于农业自动化领域，具体涉及一种西瓜徒长苗无损判定方法。

背景技术

西瓜在世界园艺生产中占有十分重要的地位，自上世纪90年代以来西瓜产业进入快速增长阶段，西瓜种植面积不断增加。我国已成为世界上最大的西瓜生产国和消费国，年西瓜产量超6000万吨，每年对西瓜幼苗的需求高达数百亿株。种苗生产企业多以多孔连体式穴盘为容器进行育苗，以人工混配基质替代土壤。这种做法节约土地资源、适于工厂规模化生产、便于机械化操作。但在实际生产过程中存在幼苗密度大、植株间相互荫蔽等问题，容易由于光照不足形成徒长苗。此外为满足周年生产的需要，在阴雨高温等季节环境不适的条件下也要进行育苗。这种弱光、高温、高湿的条件常会导致幼苗徒长，不利于壮苗的育成。徒长苗也不能满足后续种植生产的需要，因此要在育苗过程中及时甄别出徒长苗。如何筛选出徒长幼苗成为目前西瓜育苗标准化生产的关键问题。

在西瓜育苗过程中，一般是观察其外部形态指标如株高和茎粗，通过经验性判断来判定西瓜苗是否出现徒长，主观判断，直观性差，不利于实现对幼苗的大规模检测。

综上，如何提供一种可以准确判断西瓜苗是否徒长的综合评价指标，用于帮助生产者和科研工作者对西瓜幼苗进行准确的判定，是本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是提供一种以直观数据无损定量判定西瓜徒长苗的方法，从而提高人工筛选徒长苗的效率，实现对各个生长期西瓜幼苗的大规模智能化检测。

(二)技术方案

为了解决上述问题，本发明提供了如下技术方案，提出了一种西瓜徒长苗无损判定方法，具体如下。

一种西瓜徒长苗无损判定方法，其特征在于，该方法用于对西瓜徒长苗和正常苗进行判定，具体包括如下步骤：

S 1，获取西瓜穴盘苗的表型参数，参数包括下胚轴长、根长和茎粗等；

S2，对测量获得的表型数据进行预处理，补偿测量误差；

S3，获取徒长值Z，

S4，根据徒长值Z对徒长苗和正常苗进行判定。

更具体地，步骤S1中获取西瓜穴盘苗的表型参数，具体是通过图像识别的方式获得；首先利用图像采集装置拍摄西瓜苗表型照片，再进行图像预处理，结合图像识别算法分别计算得到西瓜苗的表型参数。

更具体地，步骤S2中对测量获得的表型数据进行预处理，包括数据异常值清洗，将所测西瓜苗表型参数数据按照升序进行排序，剔除明显属于异常值的数据记录，将其视为缺失项，再进行数据插补。

更具体地，步骤S4中根据徒长值Z对徒长苗和正常苗进行判定，具体判定规则为，

如果徒长值Z＞0.3，则该苗徒长现象较明显；

如果徒长值0.2≤Z≤0.3，则该苗徒长但并不严重；

如果徒长值Z＜0.2，则该苗不出现徒长的现象。

(三)有益效果