[发明专利]一种西瓜徒长苗无损判定方法有效
申请号: | 202110774779.2 | 申请日: | 2021-07-07 |
公开(公告)号: | CN113515859B | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 董万静;徐胜勇;别之龙;李一璞;童辉;吴宇轩;杨子恒 | 申请(专利权)人: | 华中农业大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06Q10/06;G06Q50/02 |
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地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 西瓜 徒长 无损 判定 方法 | ||
1.一种西瓜徒长苗无损判定方法,其特征在于,该方法用于对西瓜徒长苗和正常苗进行判定,具体包括如下步骤:
S1,获取西瓜穴盘苗的表型参数,参数包括下胚轴长、根长和茎粗;
S2,对测量获得的表型数据进行预处理,补偿测量误差;
S3,获取徒长值Z,
S4,根据徒长值Z对徒长苗和正常苗进行判定,具体判定规则为:如果徒长值Z>0.3,则该苗徒长现象较明显;如果徒长值0.2≤Z≤0.3,则该苗徒长但并不严重;如果徒长值Z<0.2,则该苗不出现徒长的现象。
2.根据权利要求1所述的西瓜徒长苗无损判定方法,其特征在于,步骤S1中获取西瓜穴盘苗的表型参数,具体是通过图像识别的方式获得;首先利用图像采集装置拍摄西瓜苗表型照片,再进行图像预处理,结合图像识别算法分别计算得到西瓜苗的表型参数。
3.根据权利要求1所述的西瓜徒长苗无损判定方法,其特征在于,步骤S2中对测量获得的表型数据进行预处理,包括数据异常值清洗,将所测西瓜苗表型参数数据按照升序进行排序,剔除明显属于异常值的数据记录,将其视为缺失项,再进行数据插补。
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