[发明专利]别汉棱镜光轴一致性检测组件及方法

权利要求书

1.一种别汉棱镜光轴一致性检测组件，其特征在于，包括：

探测器；

对照光路，从物方到像方依次包括：间隔设置的第一透镜组、第二透镜组、第三透镜组，所述对照光路适于在所述探测器的像面上呈现目标清晰度的物像；

检测光路，与所述对照光路共用所述第一透镜组和所述第二透镜组，所述检测光路还包括待测别汉棱镜，所述待测别汉棱镜位于所述第二透镜组远离所述第一透镜组的一侧，所述检测光路适于在所述探测器的像面上呈现所述目标清晰度的物像，所述待测别汉棱镜可沿其中心轴转动，以测量所述别汉棱镜的光轴一致性精度。

2.如权利要求1所述的别汉棱镜光轴一致性检测组件，其特征在于，所述对照光路的F数满足：1≤F/#_对照≤20，所述对照光路的焦距f'_对照满足：10mm≤f'_对照≤1000mm；所述检测光路的F数满足：1≤F/#_检测≤20，所述检测光路的焦距f'_检测满足：-1000mm≤f'_检测≤-10mm。

3.如权利要求1所述的别汉棱镜光轴一致性检测组件，其特征在于，所述探测器为可见光探测器。

4.如权利要求1所述的别汉棱镜光轴一致性检测组件，其特征在于，所述第一透镜组、所述第二透镜组、以及第三透镜组均包括至少一片透镜；

所述透镜包括但不限于K9玻璃件或熔融石英玻璃件。

5.如权利要求4所述的别汉棱镜光轴一致性检测组件，其特征在于，所有透镜中至少包括一个非球面或球面，且所述非球面满足：

其中，Z为非球面沿光轴方向在高度为Y的位置时，距离非球面顶点的矢高，R为透镜的近轴曲率半径，K为圆锥系数，A、B、C均为高次非球面系数。

6.如权利要求1所述的别汉棱镜光轴一致性检测组件，其特征在于，所述别汉棱镜光轴一致性检测组件的光学总长L和系统焦距f'之间满足：0.3f'≤L≤3f'。

7.如权利要求1所述的别汉棱镜光轴一致性检测组件，其特征在于，所述别汉棱镜光轴一致性检测组件还包括：

计算单元，用于在所述待测别汉棱镜沿其中心轴转动过程中，收集物像在所述探测器的像面上形成的多个位置信息，以计算别汉棱镜的光轴一致性精度。

8.如权利要求1所述的别汉棱镜光轴一致性检测组件，其特征在于，所述别汉棱镜光轴一致性检测组件还包括：

调节组件，用于在所述对照光路中调整所述探测器的位置，以使所述探测器的像面上适于呈现目标清晰度的物像，以及调整所述待测别汉棱镜在所述检测光路中的位置，以使所述探测器的像面上呈现所述目标清晰度的物像。

9.一种别汉棱镜光轴一致性检测方法，其特征在于，所述方法基于权利要求1-8中任一项所述的别汉棱镜光轴一致性检测组件实现，所述方法包括：

布置第一透镜组、第二透镜组、第三透镜组、以及探测器；

将所述第三透镜组替换为待测别汉棱镜；

转动待测别汉棱镜使其沿其中心轴转动，以测量所述别汉棱镜的光轴一致性精度。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述转动待测别汉棱镜使其沿其中心轴转动，以测量所述别汉棱镜的光轴一致性精度，包括：

转动待测别汉棱镜使其沿其中心轴转动，并收集物像在所述探测器的像面上形成的多个位置信息；

基于所述多个位置信息，计算别汉棱镜的光轴一致性精度。