[发明专利]一种样本分析仪及其计数异常的检测方法

权利要求书

1.一种样本分析仪计数异常的检测方法，其特征在于，所述样本分析仪用于对样本的粒子进行计数，所述检测方法包括：

对所述粒子的计数信号进行分析处理，得到第一参数和第二参数；

判断所述第一参数是否位于第一异常范围内；

若否，则判断所述第二参数是否位于第二异常范围内；

若是，判断所述样本分析仪计数异常；

其中，对所述粒子的计数信号进行分析处理，得到第一参数和第二参数的步骤包括：

根据所述粒子的计数信号得到特征参数，所述特征参数包括所述粒子的脉冲数量以及每个所述脉冲的特征信息；

根据所述特征参数获取在单位时间段内的粒子数，得到粒子数序列；

分析所述粒子数序列的有效性，得到所述有效的粒子数序列；

根据所述有效的粒子数序列对应的特征参数，生成对应的直方图；

获取所述有效的粒子数序列的计数时间在所述粒子的计数时间的占比值，获取所述直方图的前端预设通道内总粒子数的第一百分比，和所述直方图的后端预设通道内总粒子数的第二百分比，所述第一参数包括所述占比值、所述第一百分比或/和所述第二百分比；

所述第二参数包括所述有效的粒子数序列的第一平均值和第一标准差。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述判断所述第一参数是否位于第一异常范围内的步骤包括：

判断所述占比值是否小于第一预设阈值，所述第一预设阈值大于或等于0且小于或等于1；

或/和，判断所述第一百分比是否大于第二预设阈值，所述第二预设阈值大于0且小于1；

或/和，判断所述第二百分比是否大于第三预设阈值，所述第三预设阈值大于0且小于1。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述得到第一参数和第二参数的步骤包括：

获取所述有效的粒子数序列的第一平均值和第一标准差，所述第二参数包括所述第一平均值和所述第一标准差。

4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述判断所述第二参数是否位于第二异常范围内的步骤包括：

判断所述第一标准差是否大于第四预设阈值，所述第四预设阈值为大于1的常数。

5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述判断所述第二参数是否位于第二异常范围内的步骤包括：

判断所述第一标准差是否大于第五预设阈值，且所述第一百分比是否大于第六预设阈值；所述第五预设阈值为大于1的常数，且小于所述第四预设阈值，所述第六预设阈值小于所述第二预设阈值。

6.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述判断所述第二参数是否位于第二异常范围内的步骤包括：

判断所述第一标准差是否大于第七预设阈值，且所述第二百分比是否大于第八预设阈值；所述第七预设阈值为大于1的常数，且小于所述第五预设阈值，所述第八预设阈值小于所述第三预设阈值。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述第四预设阈值为所述第一平均值的开根乘以第一常数，所述第五预设阈值为所述第一平均值的开根乘以第二常数，所述第七预设阈值为所述第一平均值的开根乘以第三常数，所述第一常数大于所述第二常数，所述第二常数大于所述第三常数，且所述第三常数大于1。

8.根据权利要求1-7任一项所述的检测方法，其特征在于，所述特征信息包括脉冲峰值、脉冲位置、脉冲宽度以及时间戳；所述粒子数序列包括多个数据点，所述根据所述特征参数获取在单位时间段内的粒子数的步骤包括：

根据所述粒子的脉冲数量和每个所述脉冲的时间戳，得到在所述单位时间段内的粒子数；

所述分析多个所述粒子数序列的有效性的步骤包括：

计算所述粒子数序列的第二平均值和第二标准差；

获取所述粒子数序列中每个所述数据点和所述第二平均值的差值的绝对值，并判断所述差值的绝对值是否在预设范围内，其中所述预设范围为所述第二标准差的n倍；

若是，则得到有效的数据点，根据所有所述有效的数据点得到所述有效的粒子数序列。

9.一种样本分析仪，其特征在于，包括：

粒子计数模块，用于对样本的粒子进行计数，产生所述粒子的计数信号；

存储模块，用于存储程序数据；

控制模块，与所述粒子计数模块和所述存储模块连接，用于执行所述程序数据以实现如权利要求1-8中任一项所述的检测方法。