[发明专利]一种基于超构表面的光学边缘检测设计方法及装置在审

专利信息
申请号: 202110772414.6 申请日: 2021-07-08
公开(公告)号: CN113655548A 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 胡跃强;张建;李苓;段辉高 申请(专利权)人: 湖南大学
主分类号: G02B1/00 分类号: G02B1/00;G02B3/00;G02B5/18
代理公司: 北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297 代理人: 董自亮
地址: 410000 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 表面 光学 边缘 检测 设计 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种基于超构表面的光学边缘检测装置,其特征在于:由第一偏振片、偏振多通道超构透镜和第二偏振片组成,并最终在成像面处成像;第一偏振片、偏振多通道超构透镜和第二偏振片顺次布置;当入射光为水平线偏振或者垂直线偏振时,出射光不加滤光时,三个像都会呈现出来;当两个偏振分量为左旋圆偏光和右旋圆偏光时,物体得原像和其边缘的像会同时出现在成像面上,但是如果两个偏振光的分量是水平线偏振和垂直线偏振的时候,物体的原像是不会出现在成像平面上的,而物体的边缘像会出现在成像平面上。

2.根据权利要求1所述的一种基于超构表面的光学边缘检测装置,其特征在于:偏振多通道超构透镜包括电介质纳米柱阵列和衬底,电介质纳米柱阵列固定在衬底上。

3.根据权利要求2所述的一种基于超构表面的光学边缘检测装置,其特征在于:所述的电介质纳米柱阵列的形状包括圆形、矩形或者不规则形状。

4.根据权利要求1所述的一种基于超构表面的光学边缘检测装置,其特征在于:所述的单个像素中的电介质纳米柱数量没有限制,为单个或者为多个。

5.根据权利要求1所述的一种基于超构表面的光学边缘检测装置,其特征在于:将透镜相位与闪耀光栅相位相结合,使得透镜的焦点偏离中心位置,每一套透镜都携带着不同的偏振信息,透镜的焦点个数根据需求设计,焦点数量大于等于三个。

6.根据权利要求1所述的一种基于超构表面的光学边缘检测装置,其特征在于:对重叠的像进行偏振滤光可得到成像物体的轮廓,不同的偏振光的组合可获得不同的物体边缘,通过调控焦点的距离控制两个成像的偏移范围,由于不同的透镜所携带的偏振信息不同,当两束不同的偏振光叠加时,叠加部分的偏振态将发生变化,而非叠加部分的偏振态并没有发生改变,通过偏振片滤除叠加部分的偏振光得到物体的边缘部分。

7.根据权利要求1所述的一种基于超构表面的光学边缘检测装置,其特征在于:叠加部分的偏振光为非叠加偏振光的矢量和,非叠加偏振光包括线偏振光,圆偏振光。

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