[发明专利]一种面向异构众核处理器的芯片测试方法及装置

权利要求书

1.一种面向异构众核处理器的芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：

识别待测异构众核处理器中的各控制核心和各运算核组，每个所述运算核组包括若干个运算核心；

在各所述控制核心中装载相同的控制核心测试向量，并在各所述运算核心中装载相同的运算核心测试向量；

获取所述待测异构众核处理器的设计频率，基于所述设计频率在测试环境中对所述控制核心测试向量与运算核心测试向量进行并行测试；

基于两两比较所述运算核心测试向量的第一运算结果得到所述运算核心测试向量的第一测试结果，并基于所述控制核心测试向量的第二运算结果得到所述控制核心测试向量的第二测试结果后，合并所述第一测试结果与第二测试结果，得到最终测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制核心和所述运算核组的数量相同。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在各所述控制核心中装载相同的控制核心测试向量，并在各所述运算核心中装载相同的运算核心测试向量，包括：

基于广播式数据传输方式，通过低频串口向各所述控制核心中装载相同的控制核心测试向量，并在各所述运算核心中装载相同的运算核心测试向量。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述待测异构众核处理器的设计频率，基于所述设计频率在测试环境中对所述控制核心测试向量与运算核心测试向量进行并行测试，包括：

获取所述待测异构众核处理器的设计频率，根据预设拉偏幅度对所述设计频率进行拉偏，得到频率拉偏范围；

将所述频率拉偏范围划分为若干段，将各段设置为不同测试频率等级；

根据各所述测试频率等级，在测试环境中分别对所述控制核心测试向量与运算核心测试向量进行并行测试。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于两两比较所述运算核心测试向量的第一运算结果得到所述运算核心测试向量的第一测试结果，包括：

获取每个所述运算核心的预设坐标号，基于所述预设坐标号确定所述运算核心所处坐标区域；

确定各所述坐标区域对应的运算结果倾向，从运算结果倾向表征为成功和运算结果倾向表征为失败的所述坐标区域中分别选取一运算核心测试向量进行两两比较；

基于两两比较所述运算核心测试向量的第一运算结果得到所述运算核心测试向量的第一测试结果。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述合并所述第一测试结果与第二测试结果，得到最终测试结果，包括：

通过比特向量的形式合并所述第一测试结果与第二测试结果，得到最终测试结果；

将所述最终测试结果传输至可读取区域。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

基于所述比特向量确定所述最终测试结果中发生错误结果的向量节点；

获取所述向量节点对应的预设值，基于所述预设值替换所述向量节点的错误结果。

8.一种面向异构众核处理器的芯片测试装置，其特征在于，所述装置包括：

识别模块，用于识别待测异构众核处理器中的各控制核心和各运算核组，每个所述运算核组包括若干个运算核心；

装载模块，用于在各所述控制核心中装载相同的控制核心测试向量，并在各所述运算核心中装载相同的运算核心测试向量；

获取模块，用于获取所述待测异构众核处理器的设计频率，基于所述设计频率在测试环境中对所述控制核心测试向量与运算核心测试向量进行并行测试；

比较模块，用于基于两两比较所述运算核心测试向量的第一运算结果得到所述运算核心测试向量的第一测试结果，并基于所述控制核心测试向量的第二运算结果得到所述控制核心测试向量的第二测试结果后，合并所述第一测试结果与第二测试结果，得到最终测试结果。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述方法的步骤。