[发明专利]一种隐形眼镜参数测量装置及方法

说明书

本发明涉及一种隐形眼镜参数测量装置及方法，包括低相干光源，通过光纤依次连接第一分光元件和准直器，准直器另一侧依次放置第二分光元件、第二透镜、反射镜；第一分光元件的另一个输出端通过光纤与光谱仪连接，光谱仪与计算机电连接；第二分光元件另一个输出端一侧设置有X‑Y振镜，X‑Y振镜另一侧依次设置第一透镜、样品台；低相干光源发出的光进入第一分光元件，从第一分光元件的一端输出的光经准直器变成平行光，第二分光元件将平行光分为参考光和样品光，样品台的表面与样品光垂直。本发明实现了在一台装置上进行隐形眼镜的中心厚度、含水量和曲率半径参数的测量，避免对样品损伤、节省检测时间、减少主观误差。

技术领域

本发明属于光学干涉测量技术领域，尤其涉及一种隐形眼镜参数测量装置及方法。

背景技术

隐形眼镜具有配戴美观、配戴方便及配戴稳定性等优点，越来越受到人们的喜爱,其使用人数正大量增加。随着人们生活水平的提高和医学领域的进步,对防护性角膜接触镜、美容性角膜接触镜以及医疗性角膜接触镜的开发和应用也提上日程。隐形眼镜的主要参数包括：中心厚度、含水量和曲率半径，精确测量隐形眼镜的这些参数，在隐形眼镜的制备和应用中均具有十分重要的意义。但目前对于隐形眼镜参数的测量方法存在不足：

1、中心厚度测量：隐形眼镜主要分为硬性镜片和软性镜片，硬性镜片的中心厚度测量都是接触测量，在测量时都会接触到样品，尤其测量硬性镜片时，需要将撞针放在镜片上，容易对样品造成损坏。

2、含水量测量：目前市场上测量隐形眼镜含水量的方法主要有烘箱法和卤素水分测定法。在GB/T 11417.7-2012中规定的检验方法之一就是用称重法来测定其含水量，也就是烘箱法，该方法存在以下不足：(1)烘箱法所需要样品量大，通常需要7～8片以上样品，这对抽样检验样品的质量造成一定的困难。(2)烘箱法耗时过长，通常需要16～18小时的烘干过程。(3)检测过程不易操作，操作复杂，在样品烘干后，需要在有干燥剂的干燥室中冷却至室温，冷却过程中极易吸收空气中的水分，对检测结果造成影响。卤素灯水分测定仪法与烘箱法虽然相比在实验速度上有所提升，但是同样有一些不足：(1)测定仪器本身含水，在与样品进行接触的过程中会使镜片吸水，造成测量结果不准确。(2)烘干时间通常在1～2小时之间，用时过长。(3)检测时需将仪器升温至100℃以上，会破坏样品本身的结构，对样品造成损坏。

3、曲率半径测量：由于曲率半径决定镜片与角膜的适配关系，所以它的检测是隐形眼镜检测重要的参数，目前曲率半径的检测使用曲率半径测定仪，检测方法是首先将检测镜片清洗干燥后，放入凹槽，使镜片的凹面向上，并保持凹面无任何液体，将镜片托盘放置到适当位置，能够观察到镜片反射的小绿色光束，通过目镜可以观察到呈星状图案的实像和虚像，实像位于表盘接近零点的位置，并且位于中心，而虚像位于表盘6～9mm的位置，且不在中心，调整指针到零，使实像清晰，调整物镜使虚像清晰，然后从表盘读出接近百分之一的毫米数即为镜片的曲率半径数值，测量过程复杂繁琐，需要人工判断成像清晰度，会引入主观误差。

在中心厚度和曲率半径的测量中，如果偏离样品顶点，则产生误差；且目前的测量都是人工判定顶点位置，存在主观误差。同时，目前对于上述隐形眼镜参数的测量都是需要使用不同的设备进行不同参数的测量，无法在一台设备上完成。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明提供一种隐形眼镜参数测量装置及方法。

一种隐形眼镜参数测量装置，包括低相干光源、第一分光元件、准直器、第二分光元件、第二透镜、反射镜、X-Y振镜、样品台、第一透镜、光谱仪和计算机，所述低相干光源通过光纤依次连接第一分光元件和准直器，准直器另一侧依次放置第二分光元件、第二透镜、反射镜；所述第一分光元件的另一个输出端通过光纤与光谱仪连接，光谱仪与计算机电连接；所述第二分光元件的另一个输出端一侧设置有X-Y振镜，X-Y振镜另一侧依次设置第一透镜、样品台；所述低相干光源发出的光进入第一分光元件，从第一分光元件的一端输出的光经准直器变成平行光；平行光经过第二分光元件，第二分光元件将平行光分为参考光和样品光，所述样品台的表面为反射镜，与样品光垂直。