[发明专利]一种识别蚀变类型的方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种识别蚀变类型的方法，其特征在于，包括：

获取包含待识别的蚀变的高光谱影像；

从预设的模拟光谱库中提取与所述待识别的蚀变相关的模拟光谱；

所述预设的模拟光谱库中包含不同蚀变类型对应模拟光谱，所述模拟光谱是基于构成蚀变的每种矿物的消光系数、物理参数和观测参数确定的，其中，每种矿物的消光系数是通过对每种矿物的物理参数进行分析得到的；

通过提取到的模拟光谱，识别出所述高光谱影像中的待识别的蚀变的蚀变类型。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述模拟光谱库中模拟光谱的计算过程，包括：

确定目标矿物的物理参数；所述目标矿物为任何一种单一矿物；

通过所述目标矿物的物理参数和Shkuratov模型，计算所述目标矿物的消光系数；

确定目标蚀变的矿物组合；所述目标蚀变为任何一种蚀变类型；

基于所述目标蚀变的矿物组合包含的每种矿物的物理参数、复折射率、观测参数和预设的Hapke模型，计算所述目标蚀变的模拟光谱。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述目标矿物的物理参数包括：

折射率、反射率、粒度和充填度；

每种目标矿物对应至少一种类型的物理参数，每种类型的物理参数是由折射率、反射率和不同粒度、不同填充度组成的。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述观测参数包括：入射角、出射角和消光系数；每种蚀变类型对应一种观测参数，每种观测参数表征不同观测角度对应的参数信息。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述模拟光谱库中的不同蚀变类型是通过组成蚀变的各个矿物的不同类型的物理参数、不同观测角度的观测参数区分的。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过提取到的模拟光谱，识别出所述高光谱影像中的待识别的蚀变的蚀变类型，包括：

对预设的光谱诊断方法和预设的光谱匹配方法进行权重判决，确定预设的光谱诊断方法和预设的光谱匹配方法的权重；

基于预设的光谱诊断方法和预设的光谱匹配方法的权重，结合光谱诊断方法、光谱匹配方法，从待处理的蚀变的高光谱影像中识别待识别的蚀变的蚀变类型。

7.一种识别蚀变类型的装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取包含待识别的蚀变的高光谱影像；

第一提取单元，用于从预设的模拟光谱库中提取与所述待识别的蚀变类型相关的模拟光谱；

所述预设的模拟光谱库中包含不同蚀变类型对应的模拟光谱，所述模拟光谱是基于构成蚀变的每种矿物的消光系数、物理参数和观测参数确定的，其中，每种矿物的消光系数是通过对每种矿物的物理参数进行分析得到的；

第二提取单元，用于通过提取到的模拟光谱，识别出所述高光谱影像中的待识别的蚀变的蚀变类型。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

第一确定单元，用于确定目标矿物的物理参数；所述目标矿物为任何一种单一矿物；

第一计算单元，用于通过所述目标矿物的物理参数和Shkuratov模型，计算所述目标矿物的消光系数；

第二确定单元，用于确定目标蚀变的矿物组合；所述目标蚀变为任何一种蚀变类型；

第二计算单元，用于基于所述目标蚀变的矿物组合包含的每种矿物的物理参数、复折射率、观测参数和预设的Hapke模型，计算所述目标蚀变的模拟光谱。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述模拟光谱库中的不同蚀变的类型是通过组成蚀变的各个矿物的不同类型的物理参数、不同观测角度的观测参数区分的。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：

存储器和处理器；

所述处理器用于存储程序，所述处理器用于执行所述存储器中的程序时执行上述权利要求1-6中任意一项所述识别蚀变类型的方法。