[发明专利]一种工件尺寸的测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 202110746876.0 申请日: 2021-06-30
公开(公告)号: CN113514007B 公开(公告)日: 2022-04-19
发明(设计)人: 雷伟庄 申请(专利权)人: 微见智能封装技术(深圳)有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 深圳市智享知识产权代理有限公司 44361 代理人: 王琴
地址: 518000 广东省深圳市南山区南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 工件 尺寸 测量方法 装置
【说明书】:

发明涉及尺寸测量技术领域,特别涉及一种工件尺寸的测量方法及装置。测量方法包括以下步骤,获取待测工件的图像,对图像的像素进行标定,通过标定的像素结合预设对比标准对图像进行匹配测量,以获取待测工件的尺寸大小。由于标定好的像素具有较小的尺寸,因此通过提前标定的像素能够实现对较小体积的工件尺寸的测量。同时,在进行测量时无需考虑工件的形状大小,只要在拍摄范围内的工件,均能通过标定的像素获取到工件的尺寸大小,具有较高的实用性及抗干扰性。本发明实施例提供的工件尺寸的测量方法能够更加快速、准确地实现工件的尺寸测量,减少了工件尺寸的测量误差,提高了测量效率,具有较高的实用性及推广价值。

【技术领域】

本发明涉及尺寸测量技术领域,特别涉及一种工件尺寸的测量方法及装置。

【背景技术】

随着社会的发展,对产品质量的要求也越来越高,而产品上零部件的安装精度往往决定了产品的质量高低。在组装零部件前,往往需要对零部件的尺寸进行测量,以确保产品上安装的零部件合格达标。目前,常见的测量方式是采用卷尺等测量工具对零部件进行测量,当零部件的体积较小时,这种测量方式往往无法达到较高的测量精度,这就导致了对体积较小的零部件进行测量时无法得到准确的测量结果。

【发明内容】

为解决对体积较小的零部件进行尺寸测量时测量精度较低的问题,本发明实施例提供了一种工件尺寸的测量方法及装置。

为了解决上述技术问题,本发明实施例提供一种工件尺寸的测量方法,所述测量方法包括以下步骤:获取待测工件的图像;对图像的像素进行标定,具体为:获取所述图像中每个像素的像素尺寸大小;

通过标定的像素结合预设对比标准对图像进行匹配测量,具体步骤为:根据预设的对比标准结合标定的像素尺寸大小在所述待测工件的图像上生成若干对比栅格;对比标准为对比栅格尺寸与标定的像素尺寸之间的对应关系;

调整所述对比栅格以使多个所述对比栅格组成的图像轮廓或任一所述对比栅格的图像轮廓与所述待测工件的轮廓相重合;

根据所述待测工件内所述对比栅格的数量及尺寸得到所述待测工件的尺寸大小。

优选地,当多个所述对比栅格组成的图像轮廓或任一所述对比栅格的图像轮廓与所述待测工件的轮廓相重合时,所述对比栅格与所述待测工件相匹配。

优选地,对待测工件的图像进行匹配测量之前还包括:根据所述待测工件的轮廓形状确定所述对比栅格的形状。

优选地,通过对所述对比栅格进行拉伸或缩放调整所述对比栅格,或通过改变所述对比标准调整所述对比栅格以匹配所述待测工件。

优选地,所述对比栅格与所述待测工件相匹配时,所述待测工件内对应的对比栅格的数量少于10。

优选地,更换待测工件时,获取待测工件图像的位置保持不变。

本发明为解决上述技术问题,提供又一技术方案如下:一种工件尺寸的测量装置,用于执行上述的测量方法,所述测量装置包括拍摄装置及分析装置,所述拍摄装置与所述分析装置通信连接;所述拍摄装置获取待测工件的图像,所述分析装置对所述拍摄装置的像素进行标定并结合预设对比标准对所述图像进行匹配测量,以获取所述待测工件的尺寸大小。

优选地,所述分析装置进一步包括显示屏幕及操作平台,所述操作平台与所述显示屏幕通信连接,所述显示屏幕与所述拍摄装置通信连接以显示所述待测工件的图像;对待测工件进行测量时,所述显示屏幕根据对比标准结合标定的像素尺寸大小在所述待测工件的图像上生成若干对比栅格;通过所述操作平台调整所述对比栅格以使所述对比栅格与所述待测工件相匹配;根据所述待测工件内所述对比栅格的数量及尺寸得到所述待测工件的尺寸大小;对比标准为对比栅格尺寸与标定的像素尺寸之间的对应关系。

与现有技术相比,本发明实施例提供的工件尺寸的测量方法及装置具有以下优点:

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