[发明专利]一种测量谷物光滑度的方法及装置

权利要求书

1.一种测量谷物光滑度的装置，包括：

通道（3），用于供给谷物（5），特别是稻谷；

障碍物（7），其设置在通道（3）上，以减慢落到障碍物上的谷物，这样谷物流在障碍物（7）上形成谷堆（9）；

图像捕捉装置（13），其面对障碍物（7）放置；和

CPU；

其中图像捕捉装置（13）设置为从侧向捕捉谷堆（9）的图像，使得谷堆的上表面在捕捉的图像中形成为曲线，且CPU配置为确定曲线下方的面积，从而表示谷物的光滑程度。

2.根据权利要求1所述的装置，其中障碍物（7）具有排放口（11），特别是孔，作为谷物出口。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其中障碍物（7）形成为容器，特别是漏斗，用于收集谷物。

4.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中由CPU确定的面积与谷物光滑度成比例，谷堆曲线下方的面积越大，涉及光滑程度越低，而谷堆曲线下方的面积越小，涉及光滑程度越高。

5.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中图像捕捉装置（13）是数码图像捕捉装置。

6.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，进一步包括：

光源（15），用于将光投射到谷物上，特别是落于障碍物（7）上的谷物上。

7.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，进一步包括：

收集元件（19），特别是漏斗，其具有定位在障碍物（7）上方的排放口。

8.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中通道（3）构建为用于传送谷物的主通道的旁路。

9.一种用于测量谷物光滑度的方法，包括：

穿过通道（3）供给谷物（5），特别是稻谷；

通过障碍物（7）减慢谷物下落，这样谷物流在障碍物上形成谷堆（9）；

利用图像捕捉装置（13）从侧向捕捉谷堆（9）图像，使得谷堆的上表面在捕捉的图像中形成为曲线；并且

确定曲线下方的面积，其中曲线下方的面积用于表示谷物的光滑程度，谷堆的上表面形成的凸起下方的面积越大，涉及光滑程度越低，而谷堆的上表面形成的凸起下方的面积越小，涉及光滑程度越高，或者分析曲线形状。

10.根据权利要求9所述的方法，其中曲线用于表示谷物的光滑程度，谷堆的上表面形成的凸起的更陡峭部分表示光滑程度越低，而较不陡峭部分表示光滑程度越高。

11.根据权利要求9所述的方法，其中曲线下方的面积通过连接到图像捕捉装置的CPU来确定。

12.根据权利要求9或11所述的方法，其中谷物通过收集元件（19）、特别是漏斗从通道（3）收集，并且从障碍物（7）上的收集元件（19）经由收集元件（19）的排放口排放。