[发明专利]一种校准方法和电子设备

说明书

本发明提供了一种校准方法和电子设备，其方法包括：建立校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接，并将所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器建立连接；所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程以获取校准数据；处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果。本发明简化传感器校准流程，并且提高传感器校准精度。

技术领域

本发明涉及数据处理技术领域，尤指一种校准方法和电子设备。

背景技术

传感器是电子产品中重要的元器件，而传感器通常都存在精度要求，所以在电子产品运行过程中需要时常进行校准传感器，以保证传感器的精度满足精度要求。

而不同电子产品(不同品牌、不同型号的)的结构设计不同，相应地，传感器在不同电子产品中的放置位置也存在差异，进而带来校准数据的差异。因而只要是具有不同结构设计的电子产品，即使包含的传感器是相同型号，也需要对应进行传感器校准。

现有技术只能进行简单的校准，由于电子产品中的待校准传感器与处理器是相互独立的，因此现有技术中对电子产品中待校准传感器的校准流程比较复杂，并且校准精度不高。

发明内容

本发明的目的是提供一种校准方法和电子设备，实现解决简化传感器校准流程，并且提高传感器校准精度的目的。

本发明提供的技术方案如下：

本发明提供一种校准方法，包括步骤：

建立校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接，并将所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器建立连接；

所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程以获取校准数据；

处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果。

进一步的，所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程，以获取校准数据包括步骤：

通过所述校准应用程序获取校准输入参数；所述校准输入参数包括传感器类型信息以及校准类型信息；

所述校准应用程序通过处理器将所述校准输入参数，传递到所述传感器类型信息对应的运行测试接口；

所述待校准传感器根据所述校准类型信息进行测量并得到测量数据，并传递所述测量数值至所述处理器；

所述处理器根据接收的测量数据得到对应的校准数据。

进一步的，所述处理器根据接收的测量数据生成对应的校准数据包括步骤：

所述处理器按照预设时间间隔周期性，通过所述运行测试接口获取所述测量数据；

所述处理器将所述测量数据中的最大值和最小值删除，对剩余的测量数据进行均值计算；

所述处理器根据均值计算结果得到校准数据。

进一步的，所述处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果包括步骤：

所述处理器发送所述校准数据至所述运行测试接口，使得所述待校准传感器根据所述校准数据进行校准；

所述待校准传感器在完成校准操作后，再次进行测量得到测试结果，传递所述测试结果至所述处理器；

所述处理器将所述校准类型信息中的设定数值与所述测试结果进行差值计算；

在差值计算结果大于预设阈值时，所述处理器确定所述校准结果为校准失败；