[发明专利]一种校准方法和电子设备在审
申请号: | 202110741732.6 | 申请日: | 2021-06-30 |
公开(公告)号: | CN113447064A | 公开(公告)日: | 2021-09-28 |
发明(设计)人: | 李远强 | 申请(专利权)人: | 东莞市小精灵教育软件有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人: | 林晓青 |
地址: | 523851 广东省东莞市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 校准 方法 电子设备 | ||
1.一种校准方法,包括步骤:
建立校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接,并将所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器建立连接;
所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程以获取校准数据;
处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准,并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果。
2.根据权利要求1所述的校准方法,所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程,以获取校准数据包括步骤:
通过所述校准应用程序获取校准输入参数;所述校准输入参数包括传感器类型信息以及校准类型信息;
所述校准应用程序通过处理器将所述校准输入参数,传递到所述传感器类型信息对应的运行测试接口;
所述待校准传感器根据所述校准类型信息进行测量并得到测量数据,并传递所述测量数值至所述处理器;
所述处理器根据接收的测量数据得到对应的校准数据。
3.根据权利要求2所述的校准方法,所述处理器根据接收的测量数据生成对应的校准数据包括步骤:
所述处理器按照预设时间间隔周期性,通过所述运行测试接口获取所述测量数据;
所述处理器将所述测量数据中的最大值和最小值删除,对剩余的测量数据进行均值计算;
所述处理器根据均值计算结果得到校准数据。
4.根据权利要求1所述的校准方法,所述处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准,并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果包括步骤:
所述处理器发送所述校准数据至所述运行测试接口,使得所述待校准传感器根据所述校准数据进行校准;
所述待校准传感器在完成校准操作后,再次进行测量得到测试结果,传递所述测试结果至所述处理器;
所述处理器将所述校准类型信息中的设定数值与所述测试结果进行差值计算;
在差值计算结果大于预设阈值时,所述处理器确定所述校准结果为校准失败;
在差值计算结果小于预设阈值时,所述处理器确定所述校准结果为校准成功。
5.根据权利要求1-4任一项所述的校准方法,处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准,并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果之后包括步骤:
所述处理器将所述校准数据和校准结果,传递至所述校准应用程序以进行显示。
6.一种电子设备,包括:校准应用程序、处理器和待校准传感器;
所述校准应用程序包括应用接口,待校准传感器包括运行测试接口;所述校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接;所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器连接;
所述校准应用程序,用于触发所述运行测试接口启动校准线程以获取校准数据;
所述处理器,用于根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准,并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果。
7.根据权利要求6所述的电子设备,所述校准应用程序包括:输入模块;所述待校准传感器包括测量模块;
输入模块,用于获取校准输入参数;所述校准输入参数包括传感器类型信息以及校准类型信息;
所述应用接口,用于通过处理器将所述校准输入参数,传递到所述传感器类型信息对应的运行测试接口;
所述测量模块,用于根据所述校准类型信息进行测量并得到测量数据;
所述运行测试接口,用于传递所述测量数值至所述处理器;
所述处理器,还用于根据接收的测量数据得到对应的校准数据。
8.根据权利要求7所述的电子设备,所述处理器包括:
获取模块,用于按照预设时间间隔周期性,通过所述运行测试接口获取所述测量数据;
计算模块,用于将所述测量数据中的最大值和最小值删除,对剩余的测量数据进行均值计算,根据均值计算结果得到校准数据。
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