[发明专利]纳米颗粒检测微流控芯片和应用

权利要求书

1.一种纳米颗粒检测微流控芯片，其特征在于，所述微流控芯片包括温控机构、腔体和激光器；

其中，所述温控机构设置于所述腔体的上方，所述激光器设置于所述腔体的侧面；

优选地，所述微流控芯片还包括固定架。

2.根据权利要求1所述的微流控芯片，其特征在于，所述温控机构与腔体之间通过隔热层隔开；

优选地，所述隔热层的材料选自以下一种或多种：PMMA、PC、尼龙和电木；最优选为电木。

3.根据权利要求1或2所述的微流控芯片，其特征在于，所述温控机构包括温控散热片、半导体温控片和导热片；

优选地，所述温控散热片与半导体温控片之间通过隔热层隔开；

更优选地，所述隔热层的材料选自以下一种或多种：PMMA、PC、尼龙和电木；最优选为电木。

4.根据权利要求3所述的微流控芯片，其特征在于，所述温控机构的导热片上还设置有温度传感器安装孔，用于安装温度传感器；

优选地，所述温控机构的控制温度范围为0～100℃。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的微流控芯片，其特征在于，所述微流控芯片的腔体由上盖板、下底板和通道层构成；

优选地，所述上盖板、通道层、下底板通过密封胶和/或胶垫实现密封。

6.根据权利要求5所述的微流控芯片，其特征在于，所述通道层包含样本腔，用于存储检测液；

优选地，所述样本腔为通道结构；

更优选地，所述通道结构尺寸在0.1mm-10mm之间，优选为3-5mm。

7.根据权利要求5或6所述的微流控芯片，其特征在于，所述激光器设置于所述微流控芯片腔体通道层的侧面照射通道层；

优选地，所述通道层的侧面材料为透明材料；

更优选地，所述通道层的侧面材料选自以下一种或多种：PDMS、PMMA、玻璃和石英。

8.根据权利要求5至7中任一项所述的微流控芯片，其特征在于，所述上盖板包括入口和出口，用于导入和导出检测液；和/或

所述下底板的材料为透明材料；优选地，所述下底板的材料选自以下一种或多种：PDMS、PMMA、玻璃和石英。

9.一种纳米颗粒检测方法，其特征在于，所述检测方法包括使用权利要求1至8中任一项所述的微流控芯片对纳米颗粒进行检测。

10.一种纳米颗粒检测系统，其特征在于，所述纳米颗粒检测系统包括权利要求1至8中任一项所述的微流控芯片。