[发明专利]一种基于V-NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法

权利要求书

1.一种基于V-NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，所述的方法包括如下步骤：

(1)选定需要测试矿区的典型样品，采用正交偏光显微镜和XRD方法确定所述典型样品的矿物组成，进而根据所述的矿物组成对所述的典型样品进行分类；

(2)基于步骤(1)中典型样品的分类，通过V-NIR光谱分析典型样品在特征吸收峰处的原始反射率、去包络线反射率和相对吸收深度，建立样品光谱匹配库，得到典型样品的光谱数据特征，根据所述的光谱数据特征判定未知属性的测试样品是否矿化；

(3)通过XRF采集典型样品的元素含量，归纳典型样品的元素含量数据特征，根据所述的元素含量数据特征判定未知属性的测试样品是否矿化；

(4)若步骤(2)和(3)至少一个条件判定测试样品矿化，则测试样品为矿石样品，否则为岩石样品。

2.根据权利要求1所述的一种基于V-NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，步骤(1)中典型样品分为矿石样品和岩石样品。

3.根据权利要求2所述的一种基于V-NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，所述的矿石样品包括方解石脉型矿石、天青石萤石脉型矿石、天青石方解石脉型矿石、角砾岩型矿石和天青石金云母脉型矿石，所述的岩石样品包括石英闪长岩、霓长岩和英碱正长岩。

4.根据权利要求1所述的一种基于V-NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，步骤(2)中光谱数据特征是将HyLogger型岩心光谱扫描仪采集到的原始图像和光谱数据导入地质解译软件TSG，通过本次采集到的光谱数据，总结获取特征吸收峰的位置。

5.根据权利要求4所述的一种基于V-NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，REE含量较高的矿石样品在TSG软件中的特征吸收峰位置分别为512nm、524nm、580nm、676nm、740nm、800nm、864nm和892nm，利用光谱地质解译软件中相关算法，分别获取典型样品在上述特征吸收峰处的原始反射率、去包络线反射率和相对吸收深度，进而归纳总结并建立岩石样品和矿石样品在上述特征吸收峰处的原始反射率、去包络线反射率和相对吸收深度的特征规律，以便对未知属性的测试样品是否矿化进行判别。

6.根据权利要求5所述的一种基于V-NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，将典型样品在特征吸收峰位置测定的原始反射率分成512nm和892nm、524nm和864nm、580nm和800nm、676nm和740nm四组，根据每组测定的原始反射率做散点图，所述的散点图上分为矿石区、岩石区和重叠区，若测试样品测定的原始反射率的投落点在矿石区，则测试样品为矿石，若测试样品测定的原始反射率的投落点在岩石区，则测试样品为岩石，若测试样品测定的原始反射率的投落点在重叠区，则参考其他方法判断。

7.根据权利要求5所述的一种基于V-NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，测定测试样品在512nm和524nm处的去包络线反射率，若测试样品在512nm的去包络线反射率Hul512＜0.997或在524nm处的去包络线反射率Hul524＜0.997，则测试样品为矿石样品，否则为岩石样品。

8.根据权利要求5所述的一种基于V-NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，测定测试样品在所述特征吸收峰处的相对吸收深度，当测试样品的相对深度满足至少一个下述的条件：Dep5120.002、Dep5240002、Dep5800.002、Dep6760.002、Dep7400.004、Dep8000.006、Dep8640.004、Dep8920.002，则测试样品为矿石，否则为岩石样品。

9.根据权利要求1所述的一种基于V-NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，步骤(3)中XRF测定测试样品元素含量满足La1115×10^-6、Ce1974×10^-6、Y107×10^-6中的至少一个条件，则测试样品为矿石样品，否则为岩石样品。