[发明专利]一种基于CT技术进行射线安检物性识别的方法和装置

权利要求书

1.一种基于CT技术进行射线安检物性识别的方法，其特征在于，所述方法包括：

利用CT技术确定被检物体的各个体积单元的两组能量射线的线性衰减系数μ_N1和μ_N2值；

计算被检物体的各个体积单元两组能量射线的线性衰减系数比值R_Z值，其中，Z为被检测物体的原子序数；

将所述R_Z值换算为D_Z值，其中不同原子序数z物质之间的D_Z值差异较大；

通过原子序数z与D_Z值的函数关系确定被检测物体的种类。

2.根据权利要求1所述的基于CT技术进行射线安检物性识别的方法，其特征在于，利用CT技术确定被检物体的各个体积单元的两组能量射线的线性衰减系数μ_N1和μ_N2的步骤，包括：

确定两组能量大于80KeV的X射线或γ射线；

通过CT扫描求解线性衰减系数μ的方程组,获得被检物体各个体积单元的μ值，并利用两组能量射线能量获得各个体积单元的μ_N1和μ_N2值。

3.根据权利要求1所述的基于CT技术进行射线安检物性识别的方法，其特征在于，计算被检物体的各个体积单元两组能量射线的线性衰减系数比值R_Z值的步骤，包括：

利用所述两组能量射线的线性衰减系数μ_N1和μ_N2值计算得到R_Z值，其中所述R_Z值与物质的原子序数(Z)存在一一对应关系，Z为单质的原子序数，R_Z值大小与物质密度、质量电子密度大小无关，仅与物质的原子序数(Z)相关。

4.根据权利要求1所述的基于CT技术进行射线安检物性识别的方法，其特征在于，将所述R_Z值换算为D_Z值的步骤，包括：

采用A元素的R_Z值作为基准值，按照下述公式，将R_Z值换算成D_Z值，

其中，不同原子序数物质之间的D_z值差异较大。

5.根据权利要求1所述的基于CT技术进行射线安检物性识别的方法，其特征在于，其中A元素包括氢元素的R_Z值(R_H＝1.416)。

6.根据权利要求1所述的基于CT技术进行射线安检物性识别的方法，其特征在于，原子序数(Z)与D_Z值的函数关系包括：

第一周期元素Z＝K·D_Z+b

第二-第七周期元素

Z为原子序数，k、a、b分别为有关函数参数。

7.根据权利要求1所述的基于CT技术进行射线安检物性识别的方法，其特征在于，利用CT技术确定被检物体的各个体积单元的两组能量射线的线性衰减系数μ_N1和μ_N2值的步骤，包括：

CT值计算公式为

其中，CT值为利用CT技术扫描所述被检测物体得到的数值，μ_Z为某入射X、γ射线能量时Z号元素或有效原子序数为Z的化合物或混合物的线性衰减系数，μ_W为某入射X、γ射线能量时液态水的线性衰减系数。

8.一种基于CT技术进行射线安检物性识别的装置，其特征在于，包括：

确定装置，用于利用CT技术确定被检物体的各个体积单元的两组能量射线的线性衰减系数μ_N1和μ_N2值；

计算装置，用于计算被检物体的各个体积单元两组能量射线的线性衰减系数比值R_Z值，其中，Z为被检测物体的原子序数；

换算装置，用于将所述R_Z值换算为D_Z值，其中不同原子序数z物质之间的Dz值差异较大；

确定种类装置，用于通过原子序数z与D_Z值的函数关系确定被检测物体的种类。