[发明专利]上样平衡装置及其使用方法有效
申请号: | 202110672064.6 | 申请日: | 2021-06-17 |
公开(公告)号: | CN113333043B | 公开(公告)日: | 2022-04-15 |
发明(设计)人: | 杨狄;毛凌峰;倪莉丽 | 申请(专利权)人: | 杭州柏熠科技有限公司 |
主分类号: | B01L3/02 | 分类号: | B01L3/02 |
代理公司: | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人: | 倪杨 |
地址: | 310000 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平衡 装置 及其 使用方法 | ||
本申请涉及流体控制领域,特别是涉及上样平衡装置及其使用方法,包括针筒、推拉器、旋转套和锁扣,旋转套与推拉器转动连接,锁扣安装在旋转套上,针筒上设有与锁扣相匹配的锁固件,当锁扣卡固在锁固件内部时,旋转套固定在针筒内部,针筒内部密封设有活塞,且活塞与推拉器连接,本申请通过旋转吸取和推拉吸取相结合的方式,提高上样过程中人为操作稳定性,降低操作故障概率。
技术领域
本申请涉及流体控制领域,特别是涉及上样平衡装置及其使用方法。
背景技术
ONT MinION/GridION Flow Cell作为ONT长读长测序使用的主流芯片,每次文库上机前需要对芯片进行预处理和上样操作。
现有的上样装置主要为不同型号的移液器,现有移液器内部设有弹簧,而弹簧在操作过程中容易发生回弹,导致使用人员在按压移液器或抽离移液器过程中,特别容易因为弹簧的回弹现象而出现液体回吸情况,继而导致空气被吸入芯片池,而吸入的空气会在传感器阵列处产生小气泡,从而导致纳米活性孔损伤。
初次实验者由于操作不熟练,因此更容易出现因操作故障而导致整个测序芯片被废弃的情况,而测序芯片昂贵,因此因操作故障而导致的损失较大。
另外,哪怕移液器内部的弹簧没有回弹,由于整张芯片管路联通,有多个开口,因此长时间存放的芯片内部的连接管路内也会留存部分空气,而管路一旦有空气阻隔,在液体注入过程中该空气会直接被推入到传感器阵列所在区域,导致芯片纳米孔活性损失。
针对相关技术中存在的问题,目前亟需提出有效的解决方案。
发明内容
基于此,本申请提供一种提高上样过程中人为操作稳定性,降低操作故障概率的上样平衡装置及其使用方法。
第一方面,本申请提供上样平衡装置,包括针筒、推拉器、旋转套和锁扣,所述旋转套与所述推拉器转动连接,所述锁扣安装在所述旋转套上,所述针筒上设有与所述锁扣相匹配的锁固件,当所述锁扣卡固在所述锁固件内部时,所述旋转套固定在所述针筒内部,所述针筒内部密封设有活塞,且所述活塞与所述推拉器连接。
具体的,所述锁固件包括连接片和至少两个固定座,所述固定座对称分设在连接片顶面外侧,且当锁扣外侧位于固定座内侧时,锁扣与锁固件固定。
具体的,所述固定座包括支块和挡板,固定座设有四个,四个支块分设在连接片顶面前后左右四侧,挡板固定在支块上,所述支块于挡板和连接片之间围成一固定槽,且当锁扣外侧位于固定槽内时,锁扣与锁固件固定。
具体的,所述锁扣包括固定卡和转动杆,转动杆分设在固定卡顶面两侧,当固定卡位于锁固件内侧时,转动杆最外端位于锁固件外侧。
具体的,所述针筒包括管筒和锥型吸头,所述锥型吸头安装在所述管筒一侧,且当管筒长度为5.5cm时,锥型吸头长度为1cm,当管筒直径为5.5mm时,锥型吸头与管筒连接端的直径为3.4mm,锥型吸头另一端的直径为1mm。
具体的,所述锥型吸头包括吸管和吸头,所述吸管一端与管筒连接,吸头安装在吸管另一端上,当管筒直径为5.5mm时,吸管和吸头连接端的直径为2mm。
具体的,所述推拉器包括杆帽、螺杆和直杆,螺杆两端分别与杆帽和直杆连接。
具体的,所述活塞包括密封块和锥型块,所述密封块与推拉器的直杆连接,且其外壁与管筒内侧壁紧密接触,所述锥型块一端与密封块连接,另一端插入至锥型吸头与管筒的连接处内侧。
具体的,所述旋转套内侧壁上设有内螺纹结构,且所述旋转套螺装固定在推拉器的螺杆上,旋转套外壁与针筒内壁接触。
具体的,所述针筒与锁固件为一体成型结构。
第二方面,本申请提供一种上样平衡装置的使用方法,包括如下步骤:
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