[发明专利]一种胶接方法在审

专利信息
申请号: 202110670948.8 申请日: 2021-06-17
公开(公告)号: CN115492830A 公开(公告)日: 2022-12-20
发明(设计)人: 马侃;刘喆;何述明;童文海;李华;汤一彪;陆倩文;陶俊;陈凯;杨笑颜 申请(专利权)人: 上海飞机制造有限公司
主分类号: F16B11/00 分类号: F16B11/00;B24B1/00
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 胡彬
地址: 201324 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 方法
【权利要求书】:

1.一种胶接方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:在金属件(1)与蜂窝件(2)的接缝处设有保护件(3);

S2:所述金属件(1)的待胶接面上设有胶体,所述蜂窝件(2)设于所述金属件(1)的待胶接面上,对所述蜂窝件(2)和所述金属件(1)进行压合,所述胶体固化膨胀以形成胶层;

S3:去除所述保护件(3)上表面的溢胶,并根据所需所述胶层的厚度的预期范围,调节所述保护件(3)的厚度;

S4:以所述保护件(3)的上表面为基准对所述胶层的上表面进行打磨。

2.根据权利要求1所述的胶接方法,其特征在于,步骤S1中的所述保护件(3)包括多个压敏胶带,多个所述压敏胶带沿所述蜂窝件(2)的厚度方向依次叠合。

3.根据权利要求2所述的胶接方法,其特征在于,步骤S3具体包括:

S31:撕掉所述保护件(3)最上层的所述压敏胶带;

S32:根据所述胶层的厚度的预期范围,选择合适的所述压敏胶带的数量。

4.根据权利要求1所述的胶接方法,其特征在于,步骤S4具体包括:

S41:将打磨件的打磨面同时与所述保护件(3)的上表面、所述胶层的上表面相接触,以实现对所述胶层的打磨。

5.根据权利要求1所述的胶接方法,其特征在于,步骤S4还包括:

S42:通过检测件测量打磨后所述胶层的厚度。

6.根据权利要求5所述的胶接方法,其特征在于,所述检测件包括:

滑轨;

支撑座,沿第一方向滑动设于所述滑轨上;

测量件,设于所述支撑座上,所述测量件包括检测头,当所述检测头与所述金属件(1)的上表面接触时,用于测量所述金属件(1)的厚度;当所述检测头与所述胶层的上表面接触时,用于测量所述胶层与所述金属件(1)的厚度之和。

7.根据权利要求6所述的胶接方法,其特征在于,所述检测件还包括定位件,所述定位件设于所述支撑座上,所述定位件沿水平方向开设定位孔,所述检测头穿过所述定位孔,以实现对所述检测头的定位。

8.根据权利要求6所述的胶接方法,其特征在于,步骤S42具体包括:

S421:将所述定位件放置于所述金属件(1)与所述蜂窝件(2)的接缝处,所述检测头穿设所述定位孔;

S422:固定所述滑轨,并将所述测量件的测量数值归零;

S423:将所述检测头与所述金属件(1)的上表面抵接,以得到所述金属件(1)的厚度;然后沿所述第一方向滑动所述支撑座,直至所述检测头与所述胶层的上表面抵接,以得到所述金属件(1)与所述胶层的厚度之和;

S424:所述金属件(1)与所述胶层的厚度之和减去所述金属件(1)的厚度,以得到所述胶层的厚度。

9.根据权利要求5所述的胶接方法,其特征在于,步骤S4还包括:

S43:若所述胶层厚度的测量值在预期范围内,所述胶层的打磨过程结束;若所述胶层厚度的测量值不在预期范围内,则选取合适的所述保护件(3),重新对所述胶层进行打磨。

10.根据权利要求4所述的胶接方法,其特征在于,步骤S4还包括:

S44:通过抽真空件吸附在所述胶层的打磨过程中产生的粉尘。

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