[发明专利]α粒子发射率测量方法

权利要求书

1.一种α粒子发射率测量方法，其特征在于，包括：

对粉末样品进行定型制样；

分别对样品托盘和空的样品容器进行α粒子发射率背底测试，获得所述样品托盘的α粒子发射率和空的所述样品容器的α粒子发射率；

对装满所述粉末样品的样品容器进行α粒子发射率测试，根据所述样品托盘的发射率和空的所述样品容器的α粒子发射率，获得所述粉末样品的α粒子发射率。

2.根据权利要求1所述的α粒子发射率测量方法，其特征在于，所述对粉末样品进行定型制样包括：

确定所述粉末样品的样品容器；

利用所述样品容器对所述粉末样品进行定型。

3.根据权利要求2所述的α粒子发射率测量方法，其特征在于，所述样品容器包括圆形容器。

4.根据权利要求3所述的α粒子发射率测量方法，其特征在于，采用超低α粒子发射率本底的材料制成所述样品容器。

5.根据权利要求1或2所述的α粒子发射率测量方法，其特征在于，在防沾污条件下，对粉末样品进行定型制样。

6.根据权利要求1所述的α粒子发射率测量方法，其特征在于，所述分别对样品托盘和空的样品容器进行α粒子发射率背底测试，获得所述样品托盘的α粒子发射率和空的所述样品容器的α粒子发射率包括：

获取所述样品托盘的表面积，以及对所述样品托盘进行α粒子发射率背底测试时的粒子计数和测试时间；

根据所述样品托盘的表面积、对所述样品托盘进行α粒子发射率背底测试时的粒子计数和测试时间，获取所述样品托盘的α粒子发射率；

获取所述样品容器的总表面积，以及对空的所述样品容器进行α粒子发射率背底测试时的粒子计数和测试时间；

根据述样品托盘的α粒子发射率、所述样品容器的总表面积、对空的所述样品容器进行α粒子发射率背底测试时的粒子计数和测试时间，获取空的所述样品容器的α粒子发射率。

7.根据权利要求6所述的α粒子发射率测量方法，其特征在于，所述根据所述样品托盘的表面积、对所述样品托盘进行α粒子发射率背底测试时的粒子计数和测试时间，获取所述样品托盘的α粒子发射率包括：

根据表达式计算所述样品托盘的α粒子发射率；

式中，R_t为所述样品托盘的α粒子发射率，单位为/cm²/hr，N₀为对所述样品托盘进行α粒子发射率背底测试时的粒子计数，T₀为对所述样品托盘进行α粒子发射率背底测试时的测试时间，单位为hr，S_t为所述样品托盘的表面积，单位为cm²。

8.根据权利要求7所述的α粒子发射率测量方法，其特征在于，所述根据述样品托盘的α粒子发射率、所述样品容器的总表面积、对空的所述样品容器进行α粒子发射率背底测试时的粒子计数和测试时间，获取空的所述样品容器的α粒子发射率包括：

根据表达式计算空的所述样品容器的α粒子发射率；

式中，R_c为空的所述样品容器的α粒子发射率，单位为/cm²/hr，N₁为对空的所述样品容器进行α粒子发射率背底测试时的粒子计数，R_t为所述样品托盘的α粒子发射率，单位为/cm²/hr，T₁为对空的所述样品容器进行α粒子发射率背底测试时的测试时间，单位为hr，S_t为所述样品托盘的表面积，单位为cm²，S_c为所述样品容器的总表面积，单位为cm²。