[发明专利]一种PCB板围框电性能自动检测装置及方法有效
申请号: | 202110653571.5 | 申请日: | 2021-06-11 |
公开(公告)号: | CN113514755B | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | 王庆伦;王婷婷;曾立云;杨晓伟;王科卫 | 申请(专利权)人: | 天津津航计算技术研究所 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 300000 天津市*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pcb 板围框电 性能 自动检测 装置 方法 | ||
1.一种PCB板围框电性能自动检测装置,其特征在于,包括上层测试压板机构、下层承载机构和气动控制机构,所述上层测试压板机构包括上层测试压板(222)、支撑架(223)和第一测试柱(224);所述下层承载机构包括前面板(231)、后面板(251)和第二测试柱(242);所述气动控制机构包括气动管(221)和气动伸缩装置(225);所述支撑架(223)和气动管(221)为绝缘材料加工制成,其他结构件为导电材料加工制成;
所述上层测试压板(222)与气动伸缩装置(225)固定连接,用于在气动伸缩装置(225)的驱动下垂直于PCB板围框运动,测试时压紧位于下层承载机构中的PCB板围框;所述第一测试柱(224)螺接在所述上层测试压板(222)的板面上,作为接线端子外接绝缘测试仪;所述支撑架(223)固定在下层承载机构的前面板(231)上,其上固定有气动伸缩装置(225),用于支撑气动伸缩装置(225)及上层测试压板(222);
所述前面板(231)与后面板(251)固定连接,两板之间形成斜向下贯通的测试通道,测试通道的进料口(31)位置高于出料口(32),测试通道的下滑道面喷涂绝缘漆或铺设绝缘材料;所述前面板(231)的板面上开设有测试通孔(2311),测试通孔(2311)与测试通道重叠部分形成有效测试区域,有效测试区域与上层测试压板(222)的垂直投影面对应,PCB板围框由进料口(31)进入测试通道后停留在有效测试区域中;所述第二测试柱(242)与前面板(231)或后面板(251)电连接,作为另一接线端子与绝缘测试仪连接;
所述前面板(231)与后面板(251)在出料口侧分别加工有测试开关半定位块,测试开关半定位块上加工半圆柱形通槽,半圆柱形通槽与测试通道连通,前面板(231)与后面板(251)固定后两测试开关半定位块对接,形成带圆柱形定位孔的测试开关定位块(261);所述测试开关定位块(261)的圆柱形定位孔内插入有测试开关(41),所述测试开关(41)为半圆柱形绝缘棒,长度延伸至测试通道内,通过旋转测试开关(41)调整其对在测试通道姿态,阻挡或允许PCB板围框滑出测试通道;
所述气动控制机构中气动管(221)用于外部气源至气动伸缩装置(225)间的气体传输,使气动伸缩装置(225)驱动上层测试压板(222)移动。
2.根据权利要求1所述的PCB板围框电性能自动检测装置,其特征在于,所述支撑架(223)为带有横梁的框架结构,所述气动伸缩装置(225)螺接在支撑架(223)的横梁上,其气动伸缩端螺接在上层测试压板(222)上。
3.根据权利要求1所述的PCB板围框电性能自动检测装置,其特征在于,所述测试通道的倾斜角度θ和动摩擦因数μ满足以下条件:
PCB板围框滑落条件:tanθμ;
PCB板围框尺寸条件:tanθ=H/L,HLμ;
式中,W为测试通道上PCB板围框的质量;θ为测试通道的倾斜角度;μ为PCB板围框在下滑道上的动摩擦因数;H为PCB板围框滑落停止时的初始高度,L为PCB板围框滑落停止时的水平距离。
4.根据权利要求1所述的PCB板围框电性能自动检测装置,其特征在于,所述测试开关定位块(261)的圆柱形定位孔的半径R2=R1+(0.1~0.2)mm,其中,R1为测试开关(41)的半径。
5.根据权利要求1所述的PCB板围框电性能自动检测装置,其特征在于,所述测试开关(41)与测试通道垂直,与水平方向夹角ψ为90-θ,θ为测试通道的倾斜角度。
6.根据权利要求1所述的PCB板围框电性能自动检测装置,其特征在于,所述下层承载机构还包括底座(241),所述底座(241)为平板结构,其上螺接固定有前面板(231)与后面板(251)。
7.根据权利要求1所述的PCB板围框电性能自动检测装置,其特征在于,所述后面板(251)上安装有气动管(221)的进气接口(42),进气接口另一端连接外部气源。
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