[发明专利]一种ADC通道校准方法

说明书

本发明提供一种ADC通道校准方法，方法包括：在单片机的第一ADC通道上外接参考电路；在所述第一ADC通道上采集所述参考电路对应的参考电压和参考量化值；开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压。本发明实施例提供的一种ADC通道校准方法，利用单片机多余的ADC通道，外加一个参考源芯片或者电路，解决部分单片机由于没有外置参考源，提高ADC采样准确度的方法，该方法对于电路的成本影响不大，提高了经济利用率。

技术领域

本发明涉及单片机技术领域，更具体地，涉及一种ADC通道校准方法。

背景技术

现有的技术部分单片机由于没有外置模/数转换器ADC(Analog-to-DigitalConverter)外置参考通道，导致使用ADC的时候必须用芯片内置参考源，由于内置参考源的不稳定，温漂较大，一致性不好等问题。对于ADC采集要求较高的产品，内置参考源很难满足设计要求。而更换单片机平台会对软件架构带来较大的变化，需要更长的时间稳定。

因此，现在亟需一种新的ADC通道校准方法来解决上述问题。

发明内容

本发明提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种ADC通道校准方法，根据本发明提供的第一方面，本发明提供一种ADC通道校准方法，包括：

在单片机的第一ADC通道上外接参考电路；

在所述第一ADC通道上采集所述参考电路对应的参考电压和参考量化值；

开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压。

其中，所述单片机包括至少两个ADC通道。

其中，所述第一ADC通道外接参考电路为参考电源芯片。

其中，所述参考电源芯片为TLV431。

其中，所述开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压，包括：

获取第一ADC通道上采集的参考电压V0和参考量化值A0；

获取开启的第二ADC通道上采集的量化值A1；

根据公式计算得到第二ADC通道上校准电压V1。

本发明实施例提供的一种ADC通道校准方法，利用单片机多余的ADC通道，外加一个参考源芯片或者电路，解决部分单片机由于没有外置参考源，提高ADC采样准确度的方法，该方法对于电路的成本影响不大，提高了经济利用率。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种ADC通道校准方法流程示意图；

图2是本发明实施例提供的单片机ADC通道示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

图1是本发明实施例提供的一种ADC通道校准方法流程示意图，如图1所示，包括：

101、在单片机的第一ADC通道上外接参考电路；

102、在所述第一ADC通道上采集所述参考电路对应的参考电压和参考量化值；

103、开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压。