[发明专利]一种ADC通道校准方法在审
| 申请号： | 202110652751.1 | 申请日： | 2021-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN113315515A | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 刘振;吴华意;王西刚;刘睿恒 | 申请（专利权）人： | 武汉拓宝科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430075 湖北省武汉市东湖高新区高*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 adc 通道 校准 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种ADC通道校准方法，其特征在于，包括：
在单片机的第一ADC通道上外接参考电路；
在所述第一ADC通道上采集所述参考电路对应的参考电压和参考量化值；
开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压。
2.根据权利要求1所述的ADC通道校准方法，其特征在于，所述单片机包括至少两个ADC通道。
3.根据权利要求1所述的ADC通道校准方法，其特征在于，所述第一ADC通道外接参考电路为参考电源芯片。
4.根据权利要求3所述的ADC通道校准方法，其特征在于，所述参考电源芯片为TLV431。
5.根据权利要求1所述的ADC通道校准方法，其特征在于，所述开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压，包括：
获取第一ADC通道上采集的参考电压V0和参考量化值A0；
获取开启的第二ADC通道上采集的量化值A1；
根据公式计算得到第二ADC通道上校准电压V1。
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