[发明专利]显示面板及显示装置在审
申请号: | 202110651709.8 | 申请日: | 2021-06-11 |
公开(公告)号: | CN113359332A | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | 张鑫 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G09G3/00 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 黄舒悦 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 显示装置 | ||
本申请实施例提供一种显示面板及显示装置;该显示面板包括测试端子、数据传输端子以及信号走线,测试信号线的第一端与测试端子电连接,测试信号线的第二端与数据传输端子电连接,测试信号线至少包括分离设置的第一短路棒以及第二短路棒,第一短路棒和第二短路棒在显示面板上的正投影位于断线区内,使测试信号线在测试端子与数据传输端子之间形成绕线结构,同时将测试信号线在断线区的部分进行镭射切割,使测试信号线在断线区具有至少两处断裂位置,进而使测试端子与数据传输端子之间无有效连接路径,阻断了静电至驱动芯片的路径,提高了显示面板的抗静电能力。
技术领域
本申请涉及显示技术领域,具体涉及一种显示面板及显示装置。
背景技术
在液晶显示面板领域,静电释放(Electro-Static Discharge,ESD)作为电磁兼容性测试,是衡量面板的优劣一项重要手段。为降低静电释放风险,业界人员通常在显示面板的显示区外围设计防静电环(ESD Ring)以改善显示面板被将静电击伤的风险。
然而,业界量产的高分辨率液晶显示面板,由于测试端子与覆晶薄膜沿着纵向排布,导致测试端子裸露,且连接测试端子与数据传输端子之间的信号走线较短,从而在液晶显示面板切割制程以及模组压焊制程中产生的静电可以经过测试端子通过断路的信号走线跳跃至覆晶薄膜的输出端,导致显示面板内部驱动电路被静电电流损伤,降低了显示装置的使用寿命。
因此,亟需一种显示面板及显示装置以解决上述技术问题。
发明内容
本申请实施例提供一种显示面板及显示装置,以改进当前高分辨率显示面板由于测试端子与覆晶薄膜之间的信号线较短而导致被静电损伤的技术问题。
本申请实施例提供一种显示面板,包括显示区、数据传输区、设于所述显示区一侧的测试端子区以及位于所述显示区与所述测试端子区之间的断线区,所述数据传输区位于所述断线区的一侧;其中,所述显示面板包括多个测试端子、多个数据传输端子以及多条信号走线;
其中,多个测试端子设置于所述测试端子区内,多个所述数据传输端子设置于所述数据传输区内,每一所述测试信号线的第一端与所述测试端子电连接,每一所述测试信号线的第二端与所述数据传输端子电连接;
其中,所述测试信号线至少包括分离设置的第一短路棒以及第二短路棒,所述第一短路棒和所述第二短路棒在所述显示面板上的正投影位于所述断线区内。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述测试信号线包括第一连接段、第二连接段以及第三连接段,所述第一连接段的第一端与所述测试端子电连接,所述第一连接段的第二端与所述第一短路棒的第一端电连接,所述第二连接段的第一端与所述第一短路棒的第二端电连接,所述第二连接段的第二端与所述第二短路棒的第一端电连接;
其中,所述第三连接段的第一端与所述第二短路棒的第二端电连接。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述数据传输区设置于所述测试端子区与所述断线区之间,所述第三连接段的第二端与所述数据传输端子电连接。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述断线区设置于所述测试端子区与所述数据传输区之间,所述测试信号线还包括第三短路棒,所述第三连接段的第二端与所述第三短路棒的第一端电连接。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述测试信号线还包括第四连接段,所述第四连接段的第一端与所述第三短路棒的第二端电连接,所述第四连接段的第二端与所述数据传输端子电连接。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述第一短路棒、所述第二短路棒以及所述第三短路棒中的至少两种相互平行设置。
可选的,在本申请的一些实施例中,多条所述测试信号线之间的分布密度由所述测试信号线的第一端至所述测试信号线的第二端增大。
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