[发明专利]PCB图像校正方法、装置、终端设备和存储介质在审
申请号: | 202110631938.3 | 申请日: | 2021-06-07 |
公开(公告)号: | CN115511718A | 公开(公告)日: | 2022-12-23 |
发明(设计)人: | 贾玮 | 申请(专利权)人: | 广州视源电子科技股份有限公司;广州视源人工智能创新研究院有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T7/50;G06N3/08 |
代理公司: | 北京泽方誉航专利代理事务所(普通合伙) 11884 | 代理人: | 陈照辉 |
地址: | 510530 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | pcb 图像 校正 方法 装置 终端设备 存储 介质 | ||
本发明实施例公开了PCB图像校正方法、装置、终端设备和存储介质,该方法中根据待测PCB的深度图和二维图确认对应的基板区域;基于所述深度图的深度信息和二维图的坐标,确认所述基板区域的三维坐标数据;从所述三维坐标数据中随机选择设定数量的点进行拟合,得到基准面;基于所述基准面,以预设的参考平面为参考,对所述深度图中每个点的深度进行校正,得到校正后的深度图。通过综合深度图中的深度信息和二维图中的颜色信息,进行基板区域的确认,基于基板区域的三维坐标数据进行拟合,并以预设的参考平面为参考,对深度图中每个点的深度进行校正,保证光学检测过程中获得的图像,最终能得到尽可能准确的深度数据,有效减少误检结果的出现。
技术领域
本发明实施例涉及光学质量检测技术领域,尤其涉及PCB图像校正方法、装置、终端设备和存储介质。
背景技术
在三维自动光学检测(3-dimension Automated Optical Inspection)领域中,通过结构光等三维成像的方法对PCB(Printed Circuit Board,印刷电路板)等目标物体(这里主要针对PCB)进行扫描,获得目标物体的深度信息,并与摄像机采集到的二维纹理图像结合起来,与数据库中的标准合格数据进行对比,从而实现PCB板的缺陷检测。通常3DAOI机器在出厂前会设定一个参考平面(高度为0),可看作与机器导轨平面平行,传感器模组最终获取的深度信息是相对于这个参考平面的相对深度。
发明人在使用现有的检测设备进行光学检测时,由于PCB元件引脚和基板弯曲等原因,放置在导轨上的PCB不一定与参考平面平行,会导致获取的深度与需要得到的深度差别过大,从而导致误检。
发明内容
本发明提供了一种PCB图像校正方法、装置、设备和存储介质,以解决现有技术对PCB检测因为变形或倾斜导致检测不准的技术问题。
第一方面,本发明实施例提供了一种PCB图像校正方法,包括:
根据待测PCB的深度图和二维图确认对应的基板区域;
基于所述深度图的深度信息和二维图的坐标,确认所述基板区域的三维坐标数据;
从所述三维坐标数据中随机选择设定数量的点进行拟合,得到基准面;
基于所述基准面,以预设的参考平面为参考,对所述深度图中每个点的深度进行校正,得到校正后的深度图。
第二方面,本发明实施例提供了一种PCB图像校正方法,包括:
根据待测PCB的深度图和二维图确认对应的基板区域;
将所述深度图与所述基板区域关联的深度信息,以及所述二维图中与所述基板区域关联的像素坐标,作为样本训练得到BP神经网络模型,所述BP神经网络模型用于输出所述像素坐标对应于预设参考面的高度值;
将所述二维图中的像素坐标,输入所述BP神经网络模型,得到每个像素坐标对应于所述预设参考面的高度值;
将所述深度图的深度信息和对应的高度值的差值,作为校正后的深度信息。
第三方面,本发明实施例还提供了一种PCB图像校正装置,包括:
基板区域确定单元,用于根据待测PCB的深度图和二维图确认对应的基板区域;
坐标数据确认单元,用于基于所述深度图的深度信息和二维图的坐标,确认所述基板区域的三维坐标数据;
坐标数据拟合单元,用于从所述三维坐标数据中随机选择设定数量的点进行拟合,得到基准面;
深度图校正单元,用于基于所述基准面,以预设的参考平面为参考,对所述深度图中每个点的深度进行校正,得到校正后的深度图。
第四方面,本发明实施例还提供了一种PCB图像校正装置,包括:
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