[发明专利]PCB图像校正方法、装置、终端设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202110631938.3 申请日: 2021-06-07
公开(公告)号: CN115511718A 公开(公告)日: 2022-12-23
发明(设计)人: 贾玮 申请(专利权)人: 广州视源电子科技股份有限公司;广州视源人工智能创新研究院有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T7/50;G06N3/08
代理公司: 北京泽方誉航专利代理事务所(普通合伙) 11884 代理人: 陈照辉
地址: 510530 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: pcb 图像 校正 方法 装置 终端设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种PCB图像校正方法,其特征在于,包括:

根据待测PCB的深度图和二维图确认对应的基板区域;

基于所述深度图的深度信息和二维图的坐标,确认所述基板区域的三维坐标数据;

从所述三维坐标数据中随机选择设定数量的点进行拟合,得到基准面;

基于所述基准面,以预设的参考平面为参考,对所述深度图中每个点的深度进行校正,得到校正后的深度图。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述三维坐标数据中随机选择设定数量的点进行拟合,得到基准面,包括:

从所述三维坐标数据中随机选择预设数量的点进行拟合,得到至少两个初始基准面;

根据所述三维坐标数据计算每个点到每个所述初始基准面的距离;

统计每个初始基准面对应的有效点,所述有效点为与该初始基准面的距离小于预设距离阈值的点;

将所述有效点最多的初始基准面作为所述基板区域的基准面。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据待测PCB的深度图和二维图确认对应的基板区域,包括:

对待测PCB的深度图进行预处理,得到第一基板区域;

对待测PCB的二维图进行预处理,得到第二基板区域;

基于所述第一基板区域和第二基板区域的交集区域,确认所述基板区域。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对待测PCB的深度图进行预处理,得到第一基板区域,具体为:

基于预设的高度阈值,对待测PCB的深度图进行分割,提取所述深度图中低于所述高度阈值的部分,得到第一基板区域。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,对待测PCB的二维图进行预处理,得到第二基板区域,具体为:

对所述二维图的三个颜色通道分别进行灰度直方图统计;

基于预设的灰度范围值,确认每个颜色通道对应的待定掩膜区域;

根据每个颜色通道对应的待定掩膜区域的交集,得到第二基板区域。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述二维图通过远心镜头采集得到;

所述基于所述深度图的深度信息和二维图的坐标,确认所述基板区域的三维坐标数据,具体为:

基于所述远心镜头的参数对所述二维图的像素坐标做等比换算得到所述三维坐标数据中的x坐标和y坐标,获取所述基板区域对应于所述深度图的深度信息作为z坐标,将对应的x坐标、y坐标和z坐标作为所述基板区域的三维坐标数据。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基准面为平面或曲面,所述平面的空间方程为k0x+k1y+z+k2=0,所述曲面的空间方程为k3x2+k4y2+k5xy+k6x+k7y+k8+z=0;

所述基于所述基准面,以预设的参考平面为参考,对所述深度图中每个点的深度进行校正,得到校正后的深度图,包括:

若所述基准面为平面,所述深度图中的点通过如下第一深度校正公式进行校正:

若所述基准面为曲面,所述深度图中的点通过如下第二深度校正公式进行校正:

其中,(i,j)为所述三维坐标数据中点(x,y)对应的像素坐标,h'(i,j)为所述三维坐标数据中点(x,y)对应的校正深度,h(i,j)为所述三维坐标数据中点(x,y)对应的测量深度,mi=x,mj=y,m为采集所述二维图的相机的物方分辨率。

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