[发明专利]量子芯片测试方法、系统、装置及量子计算机

说明书

本申请公开了一种量子芯片测试方法、系统、存储介质、装置以及量子计算机，属于量子信息领域，尤其是量子计算技术领域。所述方法包括：接收量子芯片测试实验的参数扫描配置指令；响应于测试执行指令，执行参数扫描并根据扫描结果生成施加于量子芯片的测试信号；根据所述量子芯片基于所述测试信号的反馈信号生成测试结果。与现有技术相比，本申请能够在接收实验参数的参数扫描配置指令后即可生成测试信号实现对应的测试实验，并生成与各测试信号对应的结果，因此，本申请提高了量子芯片测试效率和易操作性。

技术领域

本申请属于量子信息领域，尤其是量子计算技术领域，特别地，本申请涉及一种量子芯片测试方法、系统、存储介质、装置以及量子计算机。

背景技术

量子计算机是一类遵循量子力学规律进行高速数学和逻辑运算、存储及处理量子信息的物理装置。

量子计算机上的计算一般是通过操作位于量子芯片上的量子比特(qubit)实现。为了实现量子计算，量子芯片的各项性能参数需达到一定标准，以便能够针对量子比特执行极高保真度的量子逻辑门操作与读取。然而，量子芯片的相关性能参数，例如，量子比特的工作频率、读取谐振腔的频率等，会发生波动，如果忽略这种波动，会影响量子逻辑门操作的保真度、读取的准确性等。因此，经常需要对量子芯片进行测试以确定量子芯片的各项性能参数是否正常

由于现有量子芯片测试技术的限制，目前的量子芯片测试工作，测试人员往往需要针对要测试的性能参数确定实验参数，并围绕该实验参数进行多次测试实验，然后对多次测试实验的结果进行分析比对，这个过程对测试人员的专业技术要求较高、工作量大，严重影响了量子芯片测试工作的可替代性。因此，亟需一种效率高、易操作的量子芯片测试方案。

发明创造内容

本申请的目的是提供一种量子芯片测试方法、系统、存储介质、装置以及量子计算机，以解决现有技术中的不足。

本申请的一个方面提供了一种量子芯片测试方法，包括：

接收量子芯片测试实验的参数扫描配置指令；

响应于测试执行指令，执行参数扫描并根据扫描结果生成施加于量子芯片的测试信号；

根据所述量子芯片基于所述测试信号的反馈信号生成测试结果。

如上所述的方法，所述量子芯片测试实验至少包括以下之一：针对读取谐振腔的能谱测试实验；针对量子比特的能谱测试实验；针对量子比特的能量弛豫时间测试实验。

如上所述的方法，所述参数扫描配置指令包括阈值和步长；所述执行参数扫描的步骤，包括：根据所述阈值确定参数范围；按照所述步长扫描所述参数范围。

如上所述的方法，所述参数扫描配置指令包括阈值和样本量；所述执行参数扫描的步骤，包括：根据所述阈值确定参数范围；按照所述样本量扫描所述参数范围。

如上所述的方法，所述根据扫描结果生成施加于量子芯片的测试信号的步骤，包括：

根据扫描结果确定实验参数值及对应扫描顺序；

按照所述扫描顺序，依次生成与各所述实验参数值对应的测试信号并输出至量子芯片。

如上所述的方法，所述根据所述量子芯片基于所述测试信号的反馈信号生成测试结果的步骤，包括：

根据所述量子芯片基于所述测试信号的反馈信号，确定各所述反馈信号对应的实验结果及所述实验参数值；

针对各所述实验结果及对应的所述实验参数值拟合处理获得拟合曲线；

生成包含所述拟合曲线的测试结果。

如上所述的方法，所述根据所述量子芯片基于所述测试信号的反馈信号生成测试结果的步骤，还包括：