[发明专利]量子芯片的校准方法和装置、量子测控系统、量子计算机

权利要求书

1.一种量子芯片的校准方法，其特征在于，包括：

接收由第一界面的第一控件操作触发的串扰测试实验的选择指令，其中，所述串扰测试实验用于测试量子芯片中各个量子比特的磁通调制信号间的串扰；

响应于所述选择指令，基于量子芯片中各个量子比特的参数信息获取所述串扰测试实验的配置参数；

响应于由所述第一界面的第二控件操作触发的串扰测试实验的执行指令，获取第一串扰矩阵，其中，所述第一串扰矩阵通过由所述执行指令触发的基于所述配置参数进行的所述串扰测试实验的实验结果确定；

基于所述第一串扰矩阵，校准所述量子芯片中各个量子比特的磁通调制信号。

2.如权利要求1所述的量子芯片的校准方法，其特征在于，所述校准方法还包括：

接受第一触发信号，所述第一触发信号由基于第一界面中的第三控件操作触发；

响应于所述第一触发信号，在第二界面显示所述量子芯片的串扰矩阵。

3.如权利要求2所述的量子芯片的校准方法，其特征在于，所述校准方法还包括：

基于所述第一串扰矩阵更新所述第二界面中的串扰矩阵。

4.如权利要求3所述的量子芯片的校准方法，其特征在于，所述基于所述第一串扰矩阵，校准所述量子芯片中各个量子比特的磁通调制信号，包括：

基于更新后的串扰矩阵，获得串扰补偿矩阵；

根据所述串扰补偿矩阵确定作用在所述量子芯片中各个量子比特上施加的理想磁通调制信号；其中：所述串扰补偿矩阵为串扰矩阵的逆，所述理想磁通调制信号是指处于串扰工作点频率的各所述量子比特上施加的不会对其它量子比特产生影响的信号。

5.如权利要求1所述的量子芯片的校准方法，其特征在于，通过由所述执行指令触发的基于所述配置参数进行的所述串扰测试实验的实验结果确定的过程包括：

基于所述配置参数进行的所述串扰测试实验的结果获取所述量子芯片中各个量子比特间的第一串扰系数；

基于所述第一串扰系数确定所述第一串扰矩阵。

6.如权利要求5所述的量子芯片的校准方法，其特征在于，所述配置参数包括直流电压偏置信号；

所述基于所述配置参数进行的所述串扰测试实验的结果获取所述量子芯片中各个量子比特间的第一串扰系数，包括：

基于所述配置参数给所述量子芯片中每一个量子比特分别配置一个对应的直流电压偏置信号，并记为第一信号组合；

针对任一选定的待测量的量子比特，只更新所述第一信号组合中对应待测量的量子比特的所述直流电压偏置信号的值为设定值，得到第一目标信号组合；其中，所述设定值用于使得所述待测量的量子比特的频率处于串扰工作点频率；

在所述量子芯片上施加所述第一目标信号组合，并测量所述待测量的量子比特和相关量子比特之间的第一串扰系数；其中，所述相关量子比特为所述量子芯片上除待测量的量子比特以外的所有量子比特。

7.如权利要求6所述的量子芯片的校准方法，其特征在于，所述配置参数还包括脉冲偏置调控信号；

所述测量所述待测量的量子比特和所有的相关量子比特之间的第一串扰系数，包括：

基于所述配置参数给每一个量子比特分别配置一个对应的脉冲偏置调控信号，并记为第二信号组合；

针对选定所述相关量子比特，只更新所述第二信号组合中对应选定的量子比特的所述脉冲偏置调控信号为脉冲偏置调控目标信号，得到第二目标信号组合；

在所述量子芯片上施加所述第二目标信号组合，并测量所述选定的量子比特和待测量的量子比特之间的第一子串扰系数；其中，所述第一子串扰系数为所述第一串扰系数的一部分。