[发明专利]一种软切换多通道测量装置和方法在审

专利信息
申请号: 202110585680.8 申请日: 2021-05-27
公开(公告)号: CN113376459A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 朱跃;杨世华;缪靖媛;王永强;纪海燕;王芬;任文倩 申请(专利权)人: 上海航天智能装备有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 宣慧兰
地址: 201112 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 切换 通道 测量 装置 方法
【说明书】:

发明涉及一种软切换多通道测量装置,包括上位机系统、下位机系统和外部接口,所述下位机系统分别与上位机系统和外部接口连接,所述外部接口连接有多个待测试通路,所述上位机系统发送测量方案至下位机系统,所述下位机系统根据测量方案执行相应的通道切换指令使外部接口与待测试通路处于导通状态,并进行性能测试,测试完成后将测试数据反馈给上位机系统进行数据收集汇总,依次循环往复直至所有待测试通路测量完成为止。与现有技术相比,本发明具有提高多通路电气产品的测试效率、降低电气产品测试的劳动强度、具有较高的多通路测试适用性等优点。

技术领域

本发明涉及电气产品测试技术领域,尤其是涉及一种软切换多通道测量装置和方法。

背景技术

在电气产品生产过程中经常遇到多个同样产品同时测试情况,通常情况下多个产品同时测试需要多台同样测试设备并联使用,操作人员根据记录编号情况记录各路测量数据,此方法不仅测试效率低、劳动强度大,而且由于多台测试设备同步使用设备体积大,大大制约了产品批产效率。针对多台测试设备同步测试使用局限性,目前急需一种适用于电气产品多通路测试的装置和方法。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的测试效率低、劳动强度大的缺陷而提供一种软切换多通道测量装置和方法。

本发明的目的可以通过以下技术方案来实现:

一种软切换多通道测量装置,包括上位机系统、下位机系统和外部接口,所述下位机系统分别与上位机系统和外部接口连接,所述外部接口连接有多个待测试通路,所述上位机系统发送测量方案至下位机系统,所述下位机系统根据测量方案执行相应的通道切换指令使外部接口与待测试通路处于导通状态,并进行性能测试,测试完成后将测试数据反馈给上位机系统进行数据收集汇总,依次循环往复直至所有待测试通路测量完成为止。

所述下位机系统包括隔离模块、控制模块、供电模块、选通模块、执行模块和通信模块。

进一步地,所述通信模块与上位机系统连接,所述执行模块与外部接口连接。

进一步地,所述隔离模块与通信模块、控制模块和供电模块相互连通,所述供电模块连接到控制模块和通信模块,所述隔离模块和供电模块均连接到选通模块,所述选通模块连接到执行模块,所述执行模块连接到隔离模块。

所述供电模块对下位机系统提供电力支持。

所述外部接口在同一时间段内仅与一个待测试通路处于导通状态并进行性能测试。

所述上位机系统和下位机系统采用隔离通信方式进行通信,避免各信号之间相互干扰。

所述测量方案包括测量顺序和配置参数。

进一步地,所述外部接口根据所述配置参数生成相应待测试通路的测试程序。

所述上位机系统在所有待测试通路测量完成后,根据所述测试数据生成测试结果和测试报告。

进一步地,所述测试结果具体为相应的待测试通路的合格情况。

一种使用所述的软切换多通道测量装置的方法,具体包括以下步骤:

S1、获取用户需求,所述上位机系统根据所述用户需求设置配置参数,通过通信模块将所述配置参数以及测试命令发送至下位机系统的控制模块;

S2、控制模块获取测试命令,配置选通模块,并控制执行模块执行相应的通道切换指令确保外部接口正确接入待测试通路;

S3、控制模块根据所述配置参数执行相应待测试通路的测试程序,并将测试数据通过隔离模块和通信模块发送至上位机系统进行后续数据处理;

S4、循环执行步骤S2~S3直至所有待测试通路测试完成,所述上位机系统根据所述测试数据生成测试结果和测试报告。

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