[发明专利]继承性断块圈闭成藏层系判别方法及装置

权利要求书

1.一种继承性断块圈闭成藏层系判别方法，其特征在于，包括：

在继承性断块圈闭的垂直断层走向的目标剖面上，拾取目标剖面在各构造幕地层的顶面的水平位移与垂直位移、底面的水平位移与垂直位移；

根据目标剖面在各构造幕地层的顶面的水平位移与垂直位移，计算目标剖面各构造幕地层的顶面现今视滑距，根据目标剖面在各构造幕地层的底面的水平位移与垂直位移，计算目标剖面各构造幕地层的底面现今视滑距；

根据目标剖面各构造幕地层的顶面现今视滑距和底面现今视滑距，确定目标剖面各构造幕地层的古滑距；

根据目标剖面各构造幕地层的古滑距、顶面的地质时间、底面的地质时间，确定目标剖面各构造幕地层的古滑移速率；

根据目标剖面各构造幕地层的古滑移速率，计算目标剖面的继承性断块圈闭成藏层系参数；

基于目标剖面的继承性断块圈闭成藏层系参数，查询成藏层系参数表，确定目标剖面所在的继承性断块圈闭成藏层。

2.如权利要求1所述的继承性断块圈闭成藏层系判别方法，其特征在于，采用如下公式，根据目标剖面在各构造幕地层的顶面的水平位移与垂直位移，计算目标剖面各构造幕地层的顶面现今视滑距，根据目标剖面在各构造幕地层的底面的水平位移与垂直位移，计算目标剖面各构造幕地层的底面现今视滑距：

其中，D₁、D₂分别为目标剖面各构造幕地层的顶面现今视滑距、底面现今视滑距；x₁、y₁分别为目标剖面在各构造幕地层的顶面的水平位移与垂直位移，x₂、y₂分别为目标剖面在各构造幕地层的底面的水平位移与垂直位移。

3.如权利要求1所述的继承性断块圈闭成藏层系判别方法，其特征在于，采用如下公式，根据目标剖面各构造幕地层的顶面现今视滑距和底面现今视滑距，确定目标剖面各构造幕地层的古滑距：

D₀＝D₂-D₁

其中，D₀为目标剖面各构造幕地层的古滑距；D₁、D₂分别为各构造幕地层的顶面现今视滑距、底面现今视滑距。

4.如权利要求1所述的继承性断块圈闭成藏层系判别方法，其特征在于，采用如下公式，根据目标剖面各构造幕地层的古滑距、顶面的地质时间、底面的地质时间，确定目标剖面各构造幕地层的古滑移速率：

V₀＝D₀/T₀

T₀＝T₂-T₁

其中，V₀为目标剖面各构造幕地层的古滑移速率；T₀为目标剖面各构造幕地层的地质时间长度，T₁、T₂分别为目标剖面各构造幕地层的顶面的地质时间、底面的地质时间。

5.如权利要求1所述的继承性断块圈闭成藏层系判别方法，其特征在于，根据目标剖面各构造幕地层的古滑移速率，计算目标剖面的继承性断块圈闭成藏层系参数，包括：

对目标剖面中油气关键成藏期及之后的构造幕，采用如下公式，确定目标剖面各构造幕地层的古滑移速率：

A＝V_c/V_p

其中，A为目标剖面各构造幕地层的古滑移速率；V_c为关键成藏期内的构造幕地层的古滑移速率；V_p为关键成藏期后的构造幕地层的古滑移速率。