[发明专利]阵列基板、阵列基板的测试方法及显示面板有效
申请号: | 202110571611.1 | 申请日: | 2021-05-25 |
公开(公告)号: | CN113539085B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 许传志;谢正芳;李曼曼;张露;胡思明 | 申请(专利权)人: | 昆山国显光电有限公司 |
主分类号: | G09F9/30 | 分类号: | G09F9/30;G09G3/00 |
代理公司: | 成都极刻智慧知识产权代理事务所(普通合伙) 51310 | 代理人: | 陈万艺 |
地址: | 215000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 测试 方法 显示 面板 | ||
1.一种阵列基板,其特征在于,所述阵列基板包括:
与有效显示区对应的阵列区;
位于所述阵列区一侧的信号短接区,所述信号短接区包括将所述阵列区的至少两个数据线短接的短接端点;
位于所述信号短接区一侧的覆晶薄膜连接区,所述覆晶薄膜连接区包括多个数据信号引脚及多个第一测试信号引脚,所述数据信号引脚用于与所述阵列区的数据线连接,所述第一测试信号引脚用于与所述短接端点连接。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述信号短接区还包括分别与所述至少两个数据线对应的至少两个短接开关单元,所述数据线通过所述短接开关单元与所述短接端点连接。
3.根据权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,所述第一测试信号引脚包括与所述短接开关单元连接的第一子引脚以及与所述短接端点连接的第二子引脚。
4.根据权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板为薄膜晶体管阵列基板,所述短接开关单元为薄膜晶体管。
5.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述信号短接区包括多个所述短接端点,每个所述短接端点用于短接驱动同种颜色的像素的至少两个数据线。
6.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述多个第一测试信号引脚分别分布于所述多个数据信号引脚两侧。
7.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列区的数据线通过扇出线连接至所述信号短接区。
8.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板还包括:
位于所述覆晶薄膜连接区远离所述阵列区一侧的二次切割区,所述二次切割区包括第二测试信号引脚及测试驱动电路,所述第二测试信号引脚和测试驱动电路用于获取测试信号并发送至所述阵列区,以对所述阵列区的像素进行测试。
9.一种显示面板,其特征在于,包括权利要求1-8任意一项的阵列基板。
10.一种测试方法,其特征在于,用于对权利要求9所述的显示面板进行测试,所述方法包括:
通过所述信号短接区的第一测试信号引脚输入测试信号,使所述测试信号经与所述第一测试信号引脚连接所述短接端点传输至通过所述短接端点短接的数据线;
检测所述显示面板的整体显示效果。
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