[发明专利]VI源供电控制方法、装置、半导体测试机及存储介质在审

专利信息
申请号: 202110565455.8 申请日: 2021-05-24
公开(公告)号: CN113315095A 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 胡江;钟锋浩 申请(专利权)人: 杭州长川科技股份有限公司
主分类号: H02H7/20 分类号: H02H7/20;H02H3/08
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 聂磊
地址: 310051 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: vi 供电 控制 方法 装置 半导体 测试 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种VI源供电控制方法,应用于半导体测试机的控制单元,其特征在于,包括:

在所述控制单元启动后,获取低压供电电源在预设低压上电阶段内的第一供电信息,其中,所述第一供电信息用于表征所述低压供电电源在所述预设低压上电阶段内的上电状态;

根据所述第一供电信息,判断所述低压供电电源在所述预设低压上电阶段内是否正常上电;

在判断到所述低压供电电源在所述预设低压上电阶段内正常上电的情况下,初始化高压VI线路,并控制高压供电电源为完成初始化的所述高压VI线路供电;

检测所述高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息,并根据所述线路状态信息确定VI源供电结果。

2.根据权利要求1所述的VI源供电控制方法,其特征在于,所述低压供电电源包括第一低压电源和第二低压电源,所述第一低压电源电连接所述控制单元,根据所述第一供电信息,判断所述低压供电电源在所述预设低压供电阶段内是否正常上电包括:

检测所述第一低压电源的供电状态,并根据所述第一低压电源的供电状态启停所述第二低压电源上电;

在所述第二低压电源启动上电后,检测所述第二低压电源的供电状态,并判断所述第二低压电源的供电状态是否包括第二预设供电状态,其中,所述第二预设供电状态包括所述第二低压电源按预设电压和预设电流进行供电;

在判断到所述第二低压电源的供电状态包括所述预设供电状态的情况下,确定所述低压供电电源在所述预设低压供电阶段内正常上电。

3.根据权利要求2所述的VI源供电控制方法,其特征在于,检测所述第一低压电源的供电状态,并根据所述第一低压电源的供电状态启停所述第二低压电源上电包括:

检测所述第一低压电源的供电状态对应的第一电压和第一电流;

分别判断所述第一电压和所述第一电流是否不大于对应的第一预设阈值;

在判断到所述第一电压不大于对应的第一预设阈值和所述第一电流不大于对应的第一预设阈值的情况下,确定所述第一低压电源正常供电,并启动所述第二低压电源上电;

在判断到所述第一电压大于对应的第一预设阈值和所述第一电流大于预设阈值的情况下,确定所述第一低压电源供电异常,并结束VI源上电进程。

4.根据权利要求2所述的VI源供电控制方法,其特征在于,判断所述第二低压电源的供电状态是否包括第二预设供电状态包括:

检测所述第二低压电源的供电状态对应的第二电压和第二电流;

分别对所述第二电压与所述预设电压、所述第二电流与所述预设电流进行比较;

在比较到所述第二电压不大于所述预设电压和所述第二电流不大于所述预设电流的情况下,确定所述第二低压电源的供电状态包括第二预设供电状态;

在判断到所述第二电压大于所述预设电压,和/或判断到所述第二电流大于所述预设电流的情况下,确定所述第二低压电源供电异常,并结束VI源上电进程。

5.根据权利要求2所述的VI源供电控制方法,其特征在于,在所述控制单元启动之前,所述方法包括:所述第一低压电源在总线电源上电后上电,并为所述控制单元供电。

6.根据权利要求1所述的VI源供电控制方法,其特征在于,所述线路状态信息包括所述高压VI线路对应的初始化状态信息,检测所述高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息,并根据所述线路状态信息确定VI源供电结果包括:

获取所述高压VI线路对应的初始化状态信息,其中,所述初始化状态信息包括所述高压VI线路初始化后的初始状态;

在所述初始化状态信息中提取所述高压VI线路初始化后的初始状态,并检测所述高压VI线路的所述初始状态是否正常,得到检测结果;

在所述检测结果包括所述高压VI线路的初始状态正常的情况下,确定VI源正常供电,并结束VI源上电进程。

7.根据权利要求6所述的VI源供电控制方法,其特征在于,在所述检测结果包括所述高压VI线路的初始状态异常的情况下,所述方法包括:控制所述高压供电电源下电,并结束VI源上电进程。

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