[发明专利]测试图像处理方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种测试图像处理方法、装置、电子设备及存储介质，属于摄像头模组测试领域。根据预设缩小系数对摄像头模组捕捉的测试图像进行缩小处理，得到目标缩小图像；针对目标缩小图像进行预处理，得到预处理后图像；根据预设腐蚀系数，对预处理后图像中目标颜色区域进行腐蚀处理，得到腐蚀图像；根据预设腐蚀系数和预设缩小系数，从腐蚀图像中确定出针对所述测试图像的抓框参数，并利用抓框参数从测试图像中定位出多个ROI区域。通过本发明解决了从测试图像上抓取ROI的过程计算速度较慢且准确度不高的技术问题。

技术领域

本发明属于摄像头模组测试领域，尤其涉及一种测试图像处理方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

摄像头模组在出厂前需进行解析力测试，一般会采用SFR(spatial frequencyresponse，空间频率响应)算法来进行解析力测试。

在相关技术中，SFR是一个多值度量测量对比度损失作为空间频率的函数。采用SFR算法进行摄像头模组的解析力测试的时候，需要从摄像头模组捕捉的测试图像上抓取ROI(Region of interest，感兴趣区域)，分别用于计算横向SFR和纵向SFR。但是，基于相关技术从测试图像上抓取ROI的过程计算速度较慢且准确度不高，导致会影响解析力测试的效率和准确性。

发明内容

本发明实施例通过提供一种测试图像处理方法、装置、电子设备及存储介质，解决了从测试图像上抓取ROI的过程计算速度较慢且准确度不高的技术问题。

第一方面，本发明实施例提供一种测试图像处理方法，包括：根据预设缩小系数对摄像头模组捕捉的测试图像进行缩小处理，得到目标缩小图像，所述测试图像中包含不同颜色区域；针对目标缩小图像进行预处理，得到预处理后图像；根据预设腐蚀系数，对所述预处理后图像中目标颜色区域进行腐蚀处理，得到腐蚀图像；根据所述预设腐蚀系数和所述预设缩小系数，从所述腐蚀图像中确定出针对所述测试图像的抓框参数，并利用所述抓框参数从所述测试图像中定位出多个ROI区域。

可选地，所述针对目标缩小图像进行预处理，得到预处理后图像，包括：

对所述目标缩小图像进行降噪处理，得到第一降噪图像；

从所述第一降噪图像的图像中心至图像边缘划分为多个图像区域，并针对每个所述图像区域采用对应的二值化阈值进行二值化处理，得到所述第一降噪图像对应的二值化图像；

对所述二值化图像进行优化处理，得到所述预处理后图像。

可选地，所述对所述二值化图像进行优化处理，得到所述预处理后图像，包括：

去除所述二值化图像的白点噪声，得到第二降噪图像；

对所述第二降噪图像进行取反操作，得到所述预处理后图像。

可选地，所述测试图像包括原始黑块区域和原始白块区域，所述腐蚀图像的目标颜色区域包含多个间隔的腐蚀白块区域，所述根据所述预设腐蚀系数和所述预设缩小系数，从所述腐蚀图像中确定出针对所述测试图像的抓框参数，包括：

分别检测所述腐蚀图像中每个腐蚀白块区域的最小外接轮廓；

针对所述腐蚀图像中每个腐蚀白块区域，根据所述预设缩小系数、所述腐蚀系数以及该腐蚀白块区域的最小外接轮廓，确定出所述测试图像中与该腐蚀白块区域位置对应的原始黑块区域的抓框参数。

可选地，所述根据所述预设缩小系数、所述腐蚀系数以及该腐蚀白块区域的最小外接轮廓，确定出所述测试图像中与该腐蚀白块区域位置对应的原始黑块区域的抓框参数，包括：

根据预设腐蚀系数、预设缩小系数以及所述腐蚀白块区域的最小外接轮廓的轮廓尺寸，确定所述测试图像中与该腐蚀白块区域位置对应的原始黑块区域的区域尺寸；

确定所述腐蚀白块区域的最小外接轮廓的轮廓中心；