[发明专利]光模块温度监控及校准方法以及装置在审
申请号: | 202110558283.1 | 申请日: | 2021-05-21 |
公开(公告)号: | CN113503986A | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 施科;彭显旭;杨辉;李林科;吴天书;杨现文;张健 | 申请(专利权)人: | 武汉联特科技股份有限公司 |
主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00;G01K7/00 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 秦曼妮 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 模块 温度 监控 校准 方法 以及 装置 | ||
1.一种光模块温度监控及校准方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取不同环境温度下的光模块PCBA温度以及Case温度;
根据不同环境温度下的光模块PCBA温度以及Case温度获取光模块Case温度与PCBA温度之间的线性关系;
通过温度传感芯片对光模块内部PCBA的温度进行监控,MCU根据温度传感芯片随PCBA温度变化的输出电压计算出PCBA监控温度;
根据光模块PCBA监控温度以及上述光模块Case温度与PCBA温度之间的线性关系获取光模块Case温度作为最终的光模块工作温度上报。
2.如权利要求1所述的光模块温度监控及校准方法,其特征在于:所述光模块Case温度和PCBA温度之间的线性关系公式如下:
Temp=T*slope+offset
其中,Temp为Case温度,T为PCBA温度,slope为温度校准系数,offset为温度补偿值。
3.一种光模块温度监控及校准装置,其特征在于:包括测试光模块、温度监控装置、温度校准装置以及安装有GUI软件的计算机;
所述温度监控装置包括电源芯片、温度传感芯片以及MCU,所述电源芯片与温度传感芯片以及MCU连接,用于为温度传感芯片和MCU提供工作电压,所述温度传感芯片与MCU连接,所述温度传感芯片的输出电压随测试光模块内部PCBA的温度变化,所述MCU对温度传感芯片的输出电压进行实时采样并根据输出电压计算出PCBA监控温度传递给GUI软件;
所述温度校准装置包括测试电路板、温度可调节的密闭盒子以及点温计,所述点温计固定在所述测试光模块的管壳上,用于测试光模块的Case温度,所述测试光模块插入测试电路板中并置于密闭盒子内;
改变密闭盒子内的温度,使得测试光模块的Case温度在0℃~70℃之间变化,通过对比不同盒内温度下点温计测得的光模块Case温度和GUI软件获取的PCBA温度,对GUI软件中光模块Case温度和PCBA温度线性关系的温度校准系数和温度补偿值进行调整,GUI软件根据PCBA监控温度以及光模块Case温度和PCBA温度线性关系获取光模块Case温度进行上报。
4.如权利要求3所述的光模块温度监控及校准装置,其特征在于:所述电源芯片的型号为ADP196,所述温度传感芯片的型号为LM94023BITM,所述MCU的型号为ADuC7023或者ADuCM320i。
5.如权利要求4所述的光模块温度监控及校准装置,其特征在于:利用MCU的VREF管脚输出的2V5电压给温度传感芯片提供工作电压,温度传感芯片的输出电压V与PCBA温度T的关系式如下:
V=-8.2(mV/℃)*T(℃)+B
其中V为输出电压,T为PCBA温度,B为恒定的常数;
所述MCU利用上述关系式根据输出电压计算出PCBA监控温度。
6.如权利要求3所述的光模块温度监控及校准装置,其特征在于:所述温度校准装置还包括模拟光模块、模拟测试电路板以及光纤,所述模拟光模块放置于模拟测试电路板上,测试光模块和模拟光模块通过光纤连接,模拟光模块正常工作后,发送PRBS码型给测试光模块,给测试光模块提供一个模拟的正常工作场景。
7.如权利要求6所述的光模块温度监控及校准装置,其特征在于:所述温度校准装置还包括第一开关电源和第二开关电源,所述第一开关电源与测试电路板和测试光模块连接,用于为测试电路板和测试光模块提供工作电压;所述第二开关电源与模拟电路板和模拟光模块连接,用于为模拟电路板和模拟光模块提供工作电压。
8.如权利要求3所述的光模块温度监控及校准装置,其特征在于:所述温度可调节的密闭盒子为可调节温度的温箱。
9.如权利要求3所述的光模块温度监控及校准装置,其特征在于:所述温度可调节的密闭盒子为木质密闭盒子,通过快速温度冲击箱改变木质密闭盒子内的温度。
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