[发明专利]一种硬复位式数据的测试方法和装置

说明书

本发明公开了一种硬复位式数据的测试方法和装置，方法包括：使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统；响应于基本输入输出系统被上电或重新上电而打印系统日志，并使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志；响应于基本输入输出系统在系统日志中打印出硬复位式数据结束关键字而向供电控制芯片发出重置指令；响应于供电控制芯片接收到重置指令而断电基本输入输出系统，并在预设延时之后重新上电基本输入输出系统。本发明能够自动执行RMT，解放人工并提升效率，实时分析内存性能。

技术领域

本发明涉及测试领域，更具体地，特别是指一种硬复位式数据的测试方法和装置。

背景技术

随着信息化时代的高速发展，互联网，人工智能等技术覆盖了社会的各个领域，这对服务器的数据处理能力及网络数据的传输能力都有了更高的要求。内存条作为“桥梁”在服务器中负责如硬盘、主板、显卡等硬件与处理器之间执行数据交换和处理任务，对于服务器性能发挥着重要作用。

RMT是内存位宽余量测试，测试结果直接反映了服务器主板上内存的性能，而在测试过程中需要收集大量的RMT数据来进行性能的分析，而要想获得有效的RMT数据，则需要人为手动的开启并关闭一次串口工具来获得，这就会在获取数据这方面浪费大量的人力，无法快速及时获取数据并分析内存性能。

针对现有技术中RMT消耗人工、效率低下、数据处理缓慢的问题，目前尚无有效的解决方案。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提出一种硬复位式数据的测试方法和装置，能够自动执行RMT，解放人工并提升效率，实时分析内存性能。

基于上述目的，本发明实施例的第一方面提供了一种硬复位式数据的测试方法，包括执行以下步骤：

使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统；

响应于基本输入输出系统被上电或重新上电而打印系统日志，并使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志；

响应于基本输入输出系统在系统日志中打印出硬复位式数据结束关键字而向供电控制芯片发出重置指令；

响应于供电控制芯片接收到重置指令而断电基本输入输出系统，并在预设延时之后重新上电基本输入输出系统。

在一些实施方式中，硬复位式数据为内存位宽余量测试数据。

在一些实施方式中，方法还包括：在使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令之前，先激活基本输入输出系统的内存位宽余量工具和串口调试模式；系统日志中包括内存位宽余量测试数据。

在一些实施方式中，使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志包括：由基本输入输出系统基于内存位宽余量工具输出包括内存位宽余量测试数据的系统日志，并使用存储芯片通过串口调试模式获取系统日志，并存储。

在一些实施方式中，方法还包括：使用硬件开关向测试控制芯片发出测试停用指令，使测试控制芯片控制存储芯片停用数据自动收集功能以断电基本输入输出系统；

从存储芯片中读取系统日志，并使用硬复位式数据开始关键字和硬复位式数据结束关键字从系统日志中截取出硬复位式数据。

在一些实施方式中，硬件开关为跳帽；使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统包括：使用跳帽向测试控制芯片发出高电平，使测试控制芯片向存储芯片的硬复位式数据使能端发出高电平；使用硬件开关向测试控制芯片发出测试停用指令，使测试控制芯片控制存储芯片停用数据自动收集功能以断电基本输入输出系统包括：使用跳帽向测试控制芯片发出低电平，使测试控制芯片向存储芯片的硬复位式数据使能端发出低电平。